Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail projektu
Období řešení: 01.02.2019 — 31.12.2022
Zdroje financování
Technologická agentura ČR - Národní centra kompetence 1
- plně financující
O projektu
SEMs are the most versatile and widespread electron microscopes worldwide. However, with decreasing dimensions of devices TEMs are getting more involved in the fabrication and inspection. Additionally, for specific tasks (magnetic imaging in storage industry) dedicated instruments other than electron microscopes are necessary. We aim to develop new procedures for imaging in SEMs, including new beam generation techniques, for adding functionalities to SEMs.
Klíčová slovaSEM;TEM;detector;nanostructures
Označení
TN01000008/10
Originální jazyk
angličtina
Řešitelé
Urbánek Michal, Ing., Ph.D. - hlavní řešitelKolíbal Miroslav, doc. Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Útvary
Příprava a charakterizace nanostruktur- příjemce (29.01.2019 - nezadáno)