Detail projektu

Data registration for Dual-Target X-ray nano Computed tomography

Období řešení: 01.03.2019 — 28.02.2020

Zdroje financování

Vysoké učení technické v Brně - Vnitřní projekty VUT

- plně financující (2019-01-01 - 2020-12-31)

O projektu

Dual-Target X-ray nano Computed tomography is a technique where two energy and material separate X-ray spectra are utilised for precise examination and separation of individual sample components such as materials or tissues. However, for optimal data-processing of such acquired data, strict conditions regarding data alignment need to be fulfilled, which is in practice hardly achievable. Therefore proposed project is focused on the development of optimal data alignment procedure for high-resolution Dual-Target X-ray Computed tomography data.

Označení

CEITEC VUT-J-19-5958

Originální jazyk

čeština

Řešitelé

Šalplachta Jakub, Ing. - hlavní řešitel
Kaiser Jozef, prof. Ing., Ph.D. - spoluřešitel

Útvary

Středoevropský technologický institut VUT
- příjemce (01.01.2019 - 31.12.2019)

Odpovědnost: Šalplachta Jakub, Ing.