Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail projektu
Období řešení: 01.01.2023 — 31.12.2025
Zdroje financování
Technologická agentura ČR - 2. veřejná soutěž: Program Národní centra kompetence
- plně financující
O projektu
Magnetic contrast imaging of sub-100-nm devices with high spatial resolution is required for validation and failure analysis of magnetic recording technology (e.g. MRAM). Current approaches using transmission electron microscopy and ultra-high vacuum scanning electron microscopy are demanding in terms of complicated sample preparation, low sample throughput, and low-accessibility of these high-end instruments.
Klíčová slovaelectron microscope; vacuum
Označení
TN02000020/009
Originální jazyk
angličtina
Řešitelé
Uhlíř Vojtěch, Ing., Ph.D. - hlavní řešitel
Útvary
Nanomagnetismus a spintronika- příjemce (16.03.2023 - nezadáno)