Detail publikace

Beyond Imaging: Scanning Electron Microscope for the Quantitative Mass Measurement

KRZYŽÁNEK, V. TACKE, S. DOBRANSKÁ, K. REICHELT, R.

Originální název

Beyond Imaging: Scanning Electron Microscope for the Quantitative Mass Measurement

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Scanning electron microscope is used for quantitative mass measurement of macromolecules. This is a unique method - STEM, which can image the samples and measure their weight in addition.

Klíčová slova

STEM, ADF, mass measurement

Autoři

KRZYŽÁNEK, V.; TACKE, S.; DOBRANSKÁ, K.; REICHELT, R.

Rok RIV

2013

Vydáno

10. 8. 2013

ISSN

1431-9276

Periodikum

MICROSCOPY AND MICROANALYSIS

Ročník

19

Číslo

S2

Stát

Spojené státy americké

Strany od

130

Strany do

131

Strany počet

2

BibTex

@article{BUT101367,
  author="KRZYŽÁNEK, V. and TACKE, S. and DOBRANSKÁ, K. and REICHELT, R.",
  title="Beyond Imaging: Scanning Electron Microscope for the Quantitative Mass Measurement",
  journal="MICROSCOPY AND MICROANALYSIS",
  year="2013",
  volume="19",
  number="S2",
  pages="130--131",
  issn="1431-9276"
}