Detail publikace

Analýza a zlepšení testovatelnosti RTL číslicového obvodu

STRNADEL, J.

Originální název

Analýza a zlepšení testovatelnosti RTL číslicového obvodu

Anglický název

Testability analysis and improvements of a RTL digital circuit

Typ

článek ve sborníku mimo WoS a Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Příspěvek se věnuje blízkým tématům, problémům a pojmům souvisejícím s výzkumem v rámci mé disertační práce a používá jich k objasnění motivace a cílů tohoto výzkumu. Ten je zaměřen zejména na návrh efektivní metody analýzy testovatelnosti RTL číslicových obvodů a demonstraci jejího použití při automatizovaném návrhu pro snadnou testovatelnost s využitím techniky scan.

Anglický abstrakt

The paper deals with topics, problems and terms which are close to my PhD research and uses them to demonstrate the motivation and goals of my PhD research and thesis. The research is directed to design an efficient RTL testability analysis method and to demonstrate its application in automated DFT process using scan technique.

Klíčová slova

Testovatelnost, analýza testovatelnosti, návrh pro snadnou testovatelnost, strukturovaný návrh, částečný scan, úplný scan

Klíčová slova v angličtině

Testability, testability analysis, design for testability, structured design, partial scan, full scan

Autoři

STRNADEL, J.

Rok RIV

2003

Vydáno

7. 10. 2003

Nakladatel

Fakulta informačních technologií VUT v Brně

Místo

Brno

ISBN

80-214-2471-0

Kniha

Sborník příspěvků ze semináře Počítačové Architektury & Diagnostika

Strany od

24

Strany do

29

Strany počet

6

BibTex

@inproceedings{BUT10893,
  author="Josef {Strnadel}",
  title="Analýza a zlepšení testovatelnosti RTL číslicového obvodu",
  booktitle="Sborník příspěvků ze semináře Počítačové Architektury & Diagnostika",
  year="2003",
  pages="24--29",
  publisher="Fakulta informačních technologií VUT v Brně",
  address="Brno",
  isbn="80-214-2471-0"
}