Detail publikace

Investigation of Electron Beam Induced Mass Loss of Embedding Media in the Low Voltage STEM

NOVOTNÁ, V. HRUBANOVÁ, K. NEBESÁŘOVÁ, J. KRZYŽÁNEK, V.

Originální název

Investigation of Electron Beam Induced Mass Loss of Embedding Media in the Low Voltage STEM

Typ

článek v časopise ve Scopus, Jsc

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Radiation damage of embedding media was investigated in low voltage scanning transmission electron microscope at energies 10-30 keV.

Klíčová slova

STEM, mass loss, embedding media

Autoři

NOVOTNÁ, V.; HRUBANOVÁ, K.; NEBESÁŘOVÁ, J.; KRZYŽÁNEK, V.

Rok RIV

2014

Vydáno

10. 8. 2014

ISSN

1431-9276

Periodikum

MICROSCOPY AND MICROANALYSIS

Ročník

20

Číslo

S3

Stát

Spojené státy americké

Strany od

1270

Strany do

1271

Strany počet

2

BibTex

@article{BUT109068,
  author="NOVOTNÁ, V. and HRUBANOVÁ, K. and NEBESÁŘOVÁ, J. and KRZYŽÁNEK, V.",
  title="Investigation of Electron Beam Induced Mass Loss of Embedding Media in the Low Voltage STEM",
  journal="MICROSCOPY AND MICROANALYSIS",
  year="2014",
  volume="20",
  number="S3",
  pages="1270--1271",
  doi="10.1017/S1431927614008083",
  issn="1431-9276"
}