Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
DALLAEVA, D. RAMAZANOV, S. PROKOPYEVA, E. BRÜSTLOVÁ, J. TOMÁNEK, P.
Originální název
Lokální topografie optoelektronických substrátů připravených pomocí plazmového leptání
Anglický název
Local topography of opto-electronic substrates prepared by plasma etching
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
Rychlost leptání karbidu křemíku a oxidu hlinitého byla studováná v závislosti na úhlu leptacího materiálu a toku plazmy. Al2O3 a SiC jsou zajímavé materiály pro konstrukci optických a elektronických zařízení a topografie waferů má velký vliv na kvalitu zařízení. Argon byl použit pro suché leptání Al2O3 a SiC. Je definován sklon waferů na nejvyšší získanou rychlost leptání je definován. Mikroskopie atomárních sil byla použita ke kontrole morfologie leptaných waferů. Statistická a korelační analýza byla použita pro odhad povrchové dokonalosti. Interferometrie byl použit k nalezení rychlost leptání.
Anglický abstrakt
The study performs comparison of the etch rates Al2O3 and SiC. These materials have a wide range of optoelectronic applications. Cleaning of the substrate and consequent preparation of the heterostructure could be combine in one process circle using this technology. Variation of the etching parameters allows to find the conditions of substrate processing which will satisfy performance requirements.
Klíčová slova
leptání safír, karbid křemíku, substrát, mikroskopie atomárních sil
Klíčová slova v angličtině
etching, sapphire, silicon carbide, substrate, atomic force microscopy
Autoři
DALLAEVA, D.; RAMAZANOV, S.; PROKOPYEVA, E.; BRÜSTLOVÁ, J.; TOMÁNEK, P.
Rok RIV
2014
Vydáno
3. 12. 2014
Nakladatel
FZU AV ČR
Místo
Přerov
ISSN
0447-6441
Periodikum
Jemná mechanika a optika
Ročník
59
Číslo
11-12
Stát
Česká republika
Strany od
299
Strany do
302
Strany počet
4
BibTex
@article{BUT111080, author="Dinara {Sobola} and Shihgasan {Ramazanov} and Elena {Prokopyeva} and Jitka {Brüstlová} and Pavel {Tománek}", title="Lokální topografie optoelektronických substrátů připravených pomocí plazmového leptání", journal="Jemná mechanika a optika", year="2014", volume="59", number="11-12", pages="299--302", issn="0447-6441" }