Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
LEPÍK, P. VANĚK, J.
Originální název
Usage of low cost digital camera for detecting of silicon solar cell electroluminiscence
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
This article analyses the existing methods both practically and theoretically used to detect defected surface area in solar cells. Various methods were used but by using an upgraded camera with CMOS sensor for carrying out the electroluminescence method, this has proven to have a very crucial impact on the results. Given the overall results and the acquired information, a procedure with a simple parameter can be setup to carry out the measurements. In addition to this a catalog was formed showing the defects occurring in mono and polycrystalline solar cells.
Klíčová slova
CMOS camera, defect detection, diagnostic methods, electroluminescence, photovoltaics, photovoltaic cell, solar cell, silicon
Autoři
LEPÍK, P.; VANĚK, J.
Vydáno
28. 4. 2018
Nakladatel
Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiíí
Místo
Brno
ISBN
978-80-214-5614-3
Kniha
Proceedings of the 24th Conference STUDENT EEICT 2018
Edice
1
Číslo edice
Strany od
574
Strany do
578
Strany počet
5
URL
https://www.eeict.cz/eeict_download/archiv/sborniky/EEICT_2018_sbornik.pdf
BibTex
@inproceedings{BUT149972, author="Pavel {Lepík} and Jiří {Vaněk}", title="Usage of low cost digital camera for detecting of silicon solar cell electroluminiscence", booktitle="Proceedings of the 24th Conference STUDENT EEICT 2018", year="2018", series="1", number="1", pages="574--578", publisher="Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiíí", address="Brno", isbn="978-80-214-5614-3", url="https://www.eeict.cz/eeict_download/archiv/sborniky/EEICT_2018_sbornik.pdf" }