Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
VAŠÍČEK, Z.
Originální název
Survey and Benchmarking of Methods for Formal Analysis of Approximate Circuits
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
angličtina
Autoři
Vydáno
31. 3. 2019
ISSN
0026-2714
Periodikum
Microelectronics Reliability
Ročník
2019
Číslo
99
Stát
Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Strany od
1
Strany do
36
Strany počet
35
BibTex
@article{BUT168515, author="Zdeněk {Vašíček}", title="Survey and Benchmarking of Methods for Formal Analysis of Approximate Circuits", journal="Microelectronics Reliability", year="2019", volume="2019", number="99", pages="1--36", issn="0026-2714" }