Detail publikace

Survey of Partial Scan Methodologies

KOTÁSEK, Z.

Originální název

Survey of Partial Scan Methodologies

Typ

článek ve sborníku mimo WoS a Scopus

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Partial scan methodologies are seen as an alternative to applying a test to a digital circuit. In the presentation a survey of the methodologies is given.

Klíčová slova

digital circuit testability, test application

Autoři

KOTÁSEK, Z.

Vydáno

18. 4. 2004

Nakladatel

Slovak Academy of Science

Místo

Bratislava

Strany od

1

Strany do

77

Strany počet

77

BibTex

@inproceedings{BUT17574,
  author="Zdeněk {Kotásek}",
  title="Survey of Partial Scan Methodologies",
  booktitle="Research and Training Action for System on Chip Design, 5th FP Project",
  year="2004",
  pages="1--77",
  publisher="Slovak Academy of Science",
  address="Bratislava"
}