Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
KOTÁSEK, Z.
Originální název
Survey of Partial Scan Methodologies
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
Partial scan methodologies are seen as an alternative to applying a test to a digital circuit. In the presentation a survey of the methodologies is given.
Klíčová slova
digital circuit testability, test application
Autoři
Vydáno
18. 4. 2004
Nakladatel
Slovak Academy of Science
Místo
Bratislava
Strany od
1
Strany do
77
Strany počet
BibTex
@inproceedings{BUT17574, author="Zdeněk {Kotásek}", title="Survey of Partial Scan Methodologies", booktitle="Research and Training Action for System on Chip Design, 5th FP Project", year="2004", pages="77", publisher="Slovak Academy of Science", address="Bratislava" }