Detail publikace

Survey of Partial Scan Methodologies

KOTÁSEK, Z.

Originální název

Survey of Partial Scan Methodologies

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Partial scan methodologies are seen as an alternative to applying a test to a digital circuit. In the presentation a survey of the methodologies is given.

Klíčová slova

digital circuit testability, test application

Autoři

KOTÁSEK, Z.

Vydáno

18. 4. 2004

Nakladatel

Slovak Academy of Science

Místo

Bratislava

Strany od

1

Strany do

77

Strany počet

77

BibTex

@inproceedings{BUT17574,
  author="Zdeněk {Kotásek}",
  title="Survey of Partial Scan Methodologies",
  booktitle="Research and Training Action for System on Chip Design, 5th FP Project",
  year="2004",
  pages="77",
  publisher="Slovak Academy of Science",
  address="Bratislava"
}