Detail publikace

Optimalizace plánování testu vzhledem k příkonu

ŠKARVADA, J.

Originální název

Optimalizace plánování testu vzhledem k příkonu

Anglický název

Low power test scheduling optimization

Typ

článek ve sborníku mimo WoS a Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Příspěvek se zabývá optimalizací testu číslicového obvodu pro nízký příkon během aplikace testu. V příspěvku je prezentován princip metody využívající změn posloupnosti registrů v řetězci scan a změn posloupností testovacích vektorů. Dále je rozebrán stav prací na tématu disertační práce, jsou popsány metody, které byly zatím úspěšně implementovány a jsou prezentovány dílčí dosažené výsledky.

Anglický abstrakt

The paper deals with digital circuit test optimization for low power consumption during test application. In the paper there is described method that for this task exploits ordering of registers in scan chain and ordering of test vectors. Further in the paper there is presented status of work so far done on dissertation thesis. There were also described implemented methods and experimental results obtained.

Klíčová slova

Číslicový obvod, testování, nízký příkon, optimalizace

Klíčová slova v angličtině

Digital circuit, testing, low power consumption, optimization

Autoři

ŠKARVADA, J.

Rok RIV

2007

Vydáno

17. 9. 2007

Nakladatel

Západočeská univerzita v Plzni

Místo

Plzeň

ISBN

978-80-7043-605-9

Kniha

Počítačové architektury a diagnostika 2007

Strany od

85

Strany do

92

Strany počet

8

BibTex

@inproceedings{BUT26067,
  author="Jaroslav {Škarvada}",
  title="Optimalizace plánování testu vzhledem k příkonu",
  booktitle="Počítačové architektury a diagnostika 2007",
  year="2007",
  pages="85--92",
  publisher="Západočeská univerzita v Plzni",
  address="Plzeň",
  isbn="978-80-7043-605-9"
}