Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
KALOVÁ, I. HORÁK, K. HONEC, P.
Originální název
Complex Visual Analysis of SMD Devices
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
The aim of this article is to introduce possibilities of using of computer vision methods for inspection of SMD devices production. Several partial applications of device dimensions measuring and inspection of individual production processes are presented. Most of mentioned tasks require some specialized technique like 3D measuring, double exposure, particular way of lighting.
Klíčová slova
SMD device, computer vision, visual system, production inspection
Autoři
KALOVÁ, I.; HORÁK, K.; HONEC, P.
Rok RIV
2009
Vydáno
25. 11. 2009
Nakladatel
DAAAM International
Místo
Vienna, Austria 2009
ISBN
978-3-901509-70-4
Kniha
Annals of DAAAM for 2009 & Proceedings of the 20th International DAAAM Symposium
Strany od
233
Strany do
234
Strany počet
2
BibTex
@inproceedings{BUT29772, author="Ilona {Janáková} and Karel {Horák} and Peter {Honec}", title="Complex Visual Analysis of SMD Devices", booktitle="Annals of DAAAM for 2009 & Proceedings of the 20th International DAAAM Symposium", year="2009", pages="233--234", publisher="DAAAM International", address="Vienna, Austria 2009", isbn="978-3-901509-70-4" }