Detail publikace
Noise and scanning by local illumination as reliability estimation for silicon solar cells
CHOBOLA, Z., IBRAHIM, A.
Originální název
Noise and scanning by local illumination as reliability estimation for silicon solar cells
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
This paper presents two methods, namely those using noise and homogeneity measurements of a large area solar cells, for determining the local defects, which bring down efficiency and long reliability of single-crystal silicon solar cells.
Klíčová slova v angličtině
Solar cells, noise, homogeneity, reliability
Autoři
CHOBOLA, Z., IBRAHIM, A.
Rok RIV
2001
Vydáno
16. 3. 2001
ISSN
0219-4775
Periodikum
Fluctuation and Noise Letters
Ročník
1
Číslo
1
Stát
Singapurská republika
Strany od
L21
Strany počet
6
BibTex
@{BUT70646
}