Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
VAČKÁŘ, J., BUMBÁLEK, L.
Originální název
Prognoses and planning in metrology, and the predition application
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
One of the quantities which is monitored by the metrology of geometrical values is the structure appreciation of machined surfaces, particularly the shape of the surface profile. Spectral analysis of the surface profile is an important condition for prediction of functional properties of important component surfaces.
Klíčová slova v angličtině
planning in metrology, description of planning operations, determination
Autoři
Rok RIV
2002
Vydáno
26. 2. 2000
ISSN
2000-1213
Ročník
28
Číslo
2
Strany od
269
Strany do
274
Strany počet
6
BibTex
@article{BUT41054, author="Josef {Vačkář} and Leoš {Bumbálek}", title="Prognoses and planning in metrology, and the predition application", year="2000", volume="28", number="2", pages="6", issn="2000-1213" }