Detail publikace

Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films.

URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J.

Originální název

Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films.

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films

Klíčová slova v angličtině

thin films

Autoři

URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J.

Rok RIV

2001

Vydáno

17. 4. 2000

Nakladatel

Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht

Místo

Berlin

Strany od

604

Strany do

609

Strany počet

6

BibTex

@inproceedings{BUT4155,
  author="Michal {Urbánek} and Tomáš {Šikola} and Alois {Nebojsa} and Jiří {Spousta} and Libuše {Dittrichová} and Radim {Chmelík} and Jakub {Zlámal} and Jaroslav {Jiruše}",
  title="Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films.",
  booktitle="Micromat 2000",
  year="2000",
  pages="6",
  publisher="Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht",
  address="Berlin"
}