Detail publikačního výsledku

Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis

KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.

Originální název

Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis

Anglický název

Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis

Druh

Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus

Originální abstrakt

Paper dals with a low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. The ToF LEIS instrumentation is presented.

Anglický abstrakt

Paper dals with a low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. The ToF LEIS instrumentation is presented.

Klíčová slova v angličtině

Ga, ToF, LEIS, structural analysis

Autoři

KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.

Rok RIV

2011

Vydáno

01.01.2004

ISSN

0447-6441

Periodikum

Jemná mechanika a optika

Svazek

9

Číslo

9

Stát

Česká republika

Strany od

262

Strany počet

4

BibTex

@article{BUT42365,
  author="Miroslav {Kolíbal} and Stanislav {Průša} and Petr {Bábor} and Tomáš {Šikola}",
  title="Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="2004",
  volume="9",
  number="9",
  pages="4",
  issn="0447-6441"
}