Detail publikace

Metody objektivního stanovování reprezentativní hodnoty parametrů struktury povrchu funkčních ploch.

VAČKÁŘ, J. PERNIKÁŘ, J.

Originální název

Metody objektivního stanovování reprezentativní hodnoty parametrů struktury povrchu funkčních ploch.

Anglický název

Methods of objective assessment of the representative valueof surface structure parameters

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Jakost funkčních ploch, která významným způsobem ovlivňuje užitné vlastnosti výrobku, je definována mimo jiné parametry struktury povrchu. Pro zjišťování skutečné hodnoty sledovaného parametru na konkrétní ploše existují objektivní i subjektivní metody a postupy. Základní pravidla a postupy pro posuzování struktury povrchu definuje ČSN EN ISO 4288, která specifikuje standardní pravidla pro porovnání měřených hodnot s požadovanými hodnotami daných parametrů na výkrese nebo v technické dokumentaci. Pro praktickou přejímku struktury povrchu je často nutné stanovit přesné postupy jako podklad pro výsledná jednání mezi odběratelem a dodavatelem. Autoři vypracovali objektivní metodu, pomocí které je možné zcela objektivně s danou pravděpodobností stanovit tzv. reprezentativní hodnotu daného parametru struktury povrchu.

Anglický abstrakt

The quality of functional surfaces, influencing in a significant way the utility characteristics of the product, is, among others, specified by the parameters of surface structure. For determination of the effective value of the measured parameter of the given surface there are both objective and subjective methods and procedures. Basic rules and procedures to be applied when considering the surface structure are determined by the Czech standard ČSN EN ISO 4288 specifying standard rules for comparison of measured values and required values of parameters in drawings or technical specification. For practical takeover of the surface structure it is often necessary to determine accurate procedures as a basis for final dealings between the customer and supplier. The authors have elaborated an objective method that can be used to determine objectively so called representative value of the surface structure parameter with a given probability.

Klíčová slova v angličtině

Surface structure, surface roughness parameters, roughness parameter upper limit, basic length, representative value of surface roughness parameter

Autoři

VAČKÁŘ, J.; PERNIKÁŘ, J.

Vydáno

14. 1. 2002

ISSN

1211-4162

Periodikum

Strojírenská technologie

Ročník

2002

Číslo

3

Stát

Česká republika

Strany od

13

Strany do

17

Strany počet

5

BibTex

@article{BUT42844,
  author="Josef {Vačkář} and Jiří {Pernikář}",
  title="Metody objektivního stanovování reprezentativní hodnoty parametrů struktury povrchu funkčních ploch.",
  journal="Strojírenská technologie",
  year="2002",
  volume="2002",
  number="3",
  pages="13--17",
  issn="1211-4162"
}