Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
ŠKODA, D. KALOUSEK, R. TOMANEC, O. BARTOŠÍK, M. BŘÍNEK, L. ŠUSTR, L. ŠIKOLA, T.
Originální název
Studium optických vlastností nanostruktur pomocí mikroskopie blízkého pole
Anglický název
Study of optical properties of nanostrucutures by scanning near-field optical microscopy
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
Optické vlastnosti periodických struktur a stříbrných nanovláken byly studovány pomocí rastrovací mikroskopie blízkého pole. Iluminace zkoumaného vzorku nebo detekce elektromagnetického pole v blízkosti povrchových, opticky aktivních struktur byla provedena pomocí optického vlákna připevněného na kmitající ladičku. Následující příspěvek prezentuje nově používané zařízení, rastrovací mikroskop blízkého pole a dosavadní výsledky získané při studiu nanostruktur
Anglický abstrakt
Optical properties of periodic structures and one-dimensional nanowires have been studied by Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM). The optical waveguide connected to the tuning fork detector was used for the illumination of the sample or the collection of electromagnetic field close to surface of optically active structures. This contribution presents the ability of new instrument - scanning near-field optical microscope - and the recent results on studied nanostructures.
Klíčová slova
SNOM, NSOM; mikroskopie blízkého pole; plasmonika; plasmonové struktury
Klíčová slova v angličtině
SNOM, NSOM; near-field microscopy, plasmonics, plasmonic structures
Autoři
ŠKODA, D.; KALOUSEK, R.; TOMANEC, O.; BARTOŠÍK, M.; BŘÍNEK, L.; ŠUSTR, L.; ŠIKOLA, T.
Rok RIV
2009
Vydáno
1. 9. 2009
ISSN
0447-6441
Periodikum
Jemná mechanika a optika
Ročník
54
Číslo
7-8
Stát
Česká republika
Strany od
219
Strany do
222
Strany počet
4
BibTex
@article{BUT48785, author="David {Škoda} and Radek {Kalousek} and Ondřej {Tomanec} and Miroslav {Bartošík} and Lukáš {Břínek} and Libor {Šustr} and Tomáš {Šikola}", title="Studium optických vlastností nanostruktur pomocí mikroskopie blízkého pole", journal="Jemná mechanika a optika", year="2009", volume="54", number="7-8", pages="219--222", issn="0447-6441" }