Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
ŠKARVADA, P.; TOMÁNEK, P.; GRMELA, L.; SMITH, S.
Originální název
Microscale localization of low light emitting spots in reversed-biased silicon solar cells
Anglický název
Druh
Článek WoS
Originální abstrakt
We present the results of an investigation of the sub-micron irregularities in a monocrystalline silicon solar cell structure utilizing scanning near-field microscopy. The experiments rely on the fact that silicon solar cells under reverse bias exhibit micron-scale low-light emitting centers. A novel method allowing simultaneous localization and measurement of this light on the microscale is presented. The method allows the characterization of these irregularities with high spatial resolution.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
solar cell, defect, light emission, scanning probe microscope, microscale, localization
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Rok RIV
2011
Vydáno
09.09.2010
Nakladatel
Elsevier
Místo
North-Holland
ISSN
0927-0248
Periodikum
SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS
Svazek
94
Číslo
12
Stát
Nizozemsko
Strany od
2358
Strany do
2361
Strany počet
4
BibTex
@article{BUT49808, author="Pavel {Škarvada} and Pavel {Tománek} and Lubomír {Grmela} and Steve J. {Smith}", title="Microscale localization of low light emitting spots in reversed-biased silicon solar cells", journal="SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS", year="2010", volume="94", number="12", pages="2358--2361", issn="0927-0248" }