Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
VANĚK, J., CHOBOLA, Z., BAŘINKA, R.
Originální název
Low Frequency Noise and I-V Characteristic as Silicon Solar Cell Contact Characterization Tools
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
Analyze of new production technology of photovoltaic cells contact by using I-V characteristic and noise spectroscopy.
Klíčová slova v angličtině
Noise, contact, spectroscopy
Autoři
Vydáno
17. 9. 2002
Místo
Prague
ISBN
80-01-02579-9
Kniha
Physical and Material Engineering 2002
Strany od
121
Strany do
122
Strany počet
2
BibTex
@inproceedings{BUT5020, author="Jiří {Vaněk} and Radim {Bařinka} and Zdeněk {Chobola}", title="Low Frequency Noise and I-V Characteristic as Silicon Solar Cell Contact Characterization Tools", booktitle="Physical and Material Engineering 2002", year="2002", pages="2", address="Prague", isbn="80-01-02579-9" }