Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J.
Originální název
Application of TOF - LEIS and XPS for Surface Studies.
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
In the contribution complementary experiments on analysis of surfaces using time-of-flight low energy ion scattering (TOF-LEIS) and x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) will be presented. The attention will be paid both to analysis of surfaces and ultra-thin films (e.g. Ga) prepared in situ under UHV conditions. The advantages of simultaneous application of two complementary techniques to surface analysis will be clearly demonstrated.
Klíčová slova v angličtině
SIMS, TOF
Autoři
Rok RIV
2002
Vydáno
27. 6. 2001
Nakladatel
Vutium
Místo
Brno
ISBN
80-214-1892-3
Kniha
Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3)
Strany od
486
Strany do
493
Strany počet
8
BibTex
@{BUT69583 }