Detail publikace

Nanometrology, scanning probe microscopy and related techniques

TOMÁNEK, P. SPAJER, M.

Originální název

Nanometrology, scanning probe microscopy and related techniques

Typ

konferenční sborník (ne článek)

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Proceedings brings the results of investigation in the domain of nanometrology, scanning probe microscopy and related techniques.

Klíčová slova

Nanometrology, nanotechnology, scanning probe microscopy, devices, experiments, results

Autoři

TOMÁNEK, P.; SPAJER, M.

Rok RIV

1994

Vydáno

30. 8. 1994

Nakladatel

PC-DIR Brno.

Místo

Brno

ISBN

80-85895-0

Kniha

Nanometrology, Scanning Probe Microscopy and Related Techniq

Strany od

1

Strany do

93

Strany počet

93

BibTex

@proceedings{BUT64218,
  editor="Pavel {Tománek} and Michel {Spajer}",
  title="Nanometrology, scanning probe microscopy and related techniques",
  year="1994",
  pages="1--93",
  publisher="PC-DIR Brno.",
  address="Brno",
  isbn="80-85895-0"
}