Detail publikace

Burst noise in thin amorphous films

PAVELKA, J.

Originální název

Burst noise in thin amorphous films

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

A low frequency noise and charge carriers transport mechanism analysis have been performed on Ta-Ta2O5-MnO2 heterostructures of various thickness to determine the current noise sources. The model of MIS structure can be used to give physical interpretation of VA characteristic both in normal and reverse modes. Correlation between leakage current and noise spectral density was evaluated.

Klíčová slova v angličtině

burst noise, Ta2O5 films, self-healing

Autoři

PAVELKA, J.

Rok RIV

2001

Vydáno

1. 1. 2001

Nakladatel

ÚFYZ FEI VUT Brno

Místo

Brno

ISBN

80-214-1992-X

Kniha

Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice

Strany od

105

Strany do

110

Strany počet

6

BibTex

@{BUT70404
}