Detail publikačního výsledku

Fluktuační jevy v elektronických součástkách: tantalové kondenzátory, tlustovrstvové odpory a heterostruktury FET

PAVELKA, J.

Originální název

Fluktuační jevy v elektronických součástkách: tantalové kondenzátory, tlustovrstvové odpory a heterostruktury FET

Anglický název

Fluctuation phenomena in electronic devices: tantalum capacitors, thick film resistors and heterostructures FET

Druh

Habilitační práce

Originální abstrakt

Publikace pojednává o problematice fluktuačních jevů při transportu náboje v polovodičových materiálech a součástkách a o aplikacích šumové spektroskopie pro odhad kvality a spolehlivosti pasivních i aktivních elektronických součástek

Anglický abstrakt

Booklet deals with low-frequency noise in electronic materials and devices and and its use as a diagnostic tool for device characterisation. Noise spectroscopy is very sensitive technique for analysis of bulk and interface defects, determining quality and reliability of electronic devices. Fluctuation phenomena in wide range of passive and active devices are discussed, comprising noise in tantalum capacitors, thick film resistors and field effect transistors, based either on silicon, or novel III-V heterostructures, such as InGaAs/InAlAs or GaN/AlGaN.

Klíčová slova

1/f šum, RTS šum, spolehlivost, NDT, GaN, InGaAs, MOSFET

Klíčová slova v angličtině

1/f noise, RTS noise, reliability, NDT, GaN, InGaAs, MOSFET

Autoři

PAVELKA, J.

Rok RIV

2010

Vydáno

01.01.2008

Nakladatel

VUTIUM

Místo

Brno

Strany od

1

Strany do

41

Strany počet

41

BibTex

@misc{BUT68411,
  author="Jan {Pavelka}",
  title="Fluktuační jevy v elektronických součástkách: tantalové kondenzátory, tlustovrstvové odpory a heterostruktury FET",
  year="2008",
  pages="1--41",
  publisher="VUTIUM",
  address="Brno"
}