Detail aplikovaného výsledku

Aparatura pro měření magnetotransportních vlastností tenkých vrstev a nanostruktur

URBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T.

Originální název

Aparatura pro měření magnetotransportních vlastností tenkých vrstev a nanostruktur

Anglický název

Apparatus for the measurement of magnetotransport properties of thin film and nanostructures

Druh

Funkční vzorek

Abstrakt

Aparatura sestává z elektromagnetu napájeného bipolárním proudovým zdrojem umožňující generování magnetického pole o indukci +- 250 mT. Rezistivita vzorků v závislosti na magnetickém poli může být měřena různými metodami (dvou/čtyřbodová, van der Pauwova). Zařízení je ovládáno z PC pomocí vlastního SW.

Abstrakt anglicky

The apparatus consists of the electromagnet powered by a bipolar power supply allowing generating of the magnetic fields +-250 mT. Sample's resistivities can be measured using various methods (two/four probe, van der Pauw). Apparatus is PC controlled using proprietary software.

Klíčová slova

thin films; nanostructures; magnetoresistance; transport properties

Klíčová slova anglicky

thin films; nanostructures; magnetoresistance; transport properties

Umístění

A2/518

Licenční poplatek

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

www

http://www.physics.fme.vutbr.cz/