Detail aplikovaného výsledku

Vývoj metodiky a etalonů na zkoušení přesnosti souřadnicových měřicích strojů s optickým snímacím systémem a optických souřadnicových měřicích strojů. Projekt číslo 4.2 PT 01/013

VAVŘÍK, I.; HOLUB, M.; BLECHA, P.; BRADÁČ, F.; KARPÍŠEK, Z.

Originální název

Vývoj metodiky a etalonů na zkoušení přesnosti souřadnicových měřicích strojů s optickým snímacím systémem a optických souřadnicových měřicích strojů. Projekt číslo 4.2 PT 01/013

Anglický název

Development of methodology and etalons for acuracy testing of CMM with optic scanning head and optic CMM Project number 4.2 PT 01/013

Druh

Ověřená technologie

Abstrakt

Zajištění a prokázání metrologické návaznosti CMM s optickými snímacími systémy a optických CMM prostřednictvím vývoje vhodného systému zkoušení přesnosti složeného z hmotných etalonů rozměru (zkušební tělesa), metodiky pro vyhodnocování zkoušek přesnosti a stochastického modelování.

Abstrakt anglicky

Determining and proving metrologic links between CMM and optical scanning systems and optical CMM by developing a suitable precision testing system consisting of dimension mass standards (testing bodies), methodology of precision testing evaluation, and stochastic modelling.

Klíčová slova

CMM, optical scanning, etalon, philosophy, stochastic modeling

Klíčová slova anglicky

CMM, optical scanning, etalon, philosophy, stochastic modeling

Umístění

ÚVSSR ZL - SERVIS, s.r.o.

Možnosti využití

výsledek využívá pouze poskytovatel

Licenční poplatek

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence