Detail publikace

Noise reliability indicators for PN junction devices

HRUŠKA, P.

Originální název

Noise reliability indicators for PN junction devices

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

A measurable quantity Mq, based on the noise of a PN junction microelectronic device, is introduced. Its relation with reliability of the device and furher properties are described.

Klíčová slova

noise, reliability, PN junction

Autoři

HRUŠKA, P.

Rok RIV

2001

Vydáno

15. 11. 2001

Nakladatel

VUT Brno

Místo

Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a informatiky, Ústav fyziky,Brno

ISBN

80-214-1992-X

Kniha

Nové trendy ve fyzice

Číslo edice

1

Strany od

80

Strany do

83

Strany počet

4

BibTex

@{BUT70565
}