Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
KINCL, Z.
Originální název
Nové přístupy parametrické poruchové analýzy
Anglický název
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
V příspěvku jsou popsány základní principy multi-frekvenční parametrické poruchové analýzy pro testování lineárních analogových obvodů. Zcela zásadní roli zde hraje optimální volba testovacích bodů a kmitočtů. Sada testovacích kmitočtů je vybrána na základě minimalizace kritéria E pomocí globální stochastické optimalizace – PSO. V příspěvku je dále popsán princip aproximativní poruchové analýzy, která je vhodná pro rychlé testování složitých obvodů či obvodů s parazitními parametry.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
parametrická poruchová analýza, testování analogových obvodů, globální stochastická optimalizace, aproximativní symbolická analýza
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Rok RIV
2011
Vydáno
22. 11. 2011
Místo
Brno
ISBN
978-80-214-4368-6
Kniha
Sborník semináře o řešení doktorského projektu Grantové Agentury České republiky č. 102/08/H027
Strany od
106
Strany do
109
Strany počet
4
BibTex
@inproceedings{BUT75151, author="Zdeněk {Kincl}", title="Nové přístupy parametrické poruchové analýzy", booktitle="Sborník semináře o řešení doktorského projektu Grantové Agentury České republiky č. 102/08/H027", year="2011", pages="106--109", address="Brno", isbn="978-80-214-4368-6" }