Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
AUTRATA, R., JIRÁK, J., WANDROL, P., ŠPINKA, J.
Originální název
Detection of Backscattered Electrons in Environmental Scaning Electron Microscope
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
Impact of primary electrons causes generation of signals in the environmental scanning electron microscope (ESEM). These signals can be subsequently detected. Secondary and the backscattered electrons are very often used to obtein information about the specimen. In ESEM secondary electrons are mostly detected by a scintillation detector.
Klíčová slova v angličtině
backscattered, electron, environmental, scanning, microscope
Autoři
Vydáno
1. 6. 2003
Místo
Pula, Croatia
Strany od
489
Strany do
490
Strany počet
2
BibTex
@inproceedings{BUT8590, author="Rudolf {Autrata} and Josef {Jirák} and Petr {Wandrol} and Jiří {Špinka}", title="Detection of Backscattered Electrons in Environmental Scaning Electron Microscope", booktitle="Proceedings 6th Multinational Congress on Microscopy", year="2003", number="1", pages="2", address="Pula, Croatia" }