Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
ŠKARVADA, P. TOMÁNEK, P. KOKTAVÝ, P. DALLAEVA, D.
Originální název
Microscopic optoelectronic defectoscopy of solar cells
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
Scanning probe microscopes are powerful tool for micro- or nanoscale diagnostics of defects in crystalline silicon solar cells. Solar cell is a large p-n junction semiconductor device. Its quality is strongly damaged by the presence of defects. If the cell works under low reverse-biased voltage, defects emit a light in visible range. The suggested method combines three different measurements: electric noise measurement, local topography and near-field optical beam induced current and thus provides more complex information. To prove its feasibility, we have selected one defect (truncated pyramid) in the sample, which emitted light under low reverse-biased voltage.
Klíčová slova
solar cell, defect, noise, topography, induced photocurrent
Autoři
ŠKARVADA, P.; TOMÁNEK, P.; KOKTAVÝ, P.; DALLAEVA, D.
Rok RIV
2013
Vydáno
3. 5. 2013
Nakladatel
EDP Sciences
Místo
Les Ullis, Francie
ISSN
2100-014X
Periodikum
EPJ Web of Conferences
Ročník
48
Číslo
1
Stát
Francouzská republika
Strany od
Strany do
4
Strany počet
URL
https://www.epj-conferences.org/articles/epjconf/abs/2013/09/epjconf_OAM2012_00026/epjconf_OAM2012_00026.html
Plný text v Digitální knihovně
http://hdl.handle.net/11012/193661
BibTex
@article{BUT99870, author="Pavel {Škarvada} and Pavel {Tománek} and Pavel {Koktavý} and Dinara {Sobola}", title="Microscopic optoelectronic defectoscopy of solar cells", journal="EPJ Web of Conferences", year="2013", volume="48", number="1", pages="1--4", doi="10.1051/epjconf/20134800026", issn="2100-014X", url="https://www.epj-conferences.org/articles/epjconf/abs/2013/09/epjconf_OAM2012_00026/epjconf_OAM2012_00026.html" }