Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
Veronika Novotná, Vladislav Krzyžánek, Kamila Dobranská, Jana Nebesářová
Originální název
Investigation of Electron Beam Induced Mass Loss of Embedding media in the Low Voltage STEM
Typ
abstrakt
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
This abstract for Microscopy and Microanalysis 2014 conference in Hartford,USA speaks about influence of the primary electron beam to the sensitive samples in the low voltage STEM.
Klíčová slova
STEM, Embedding media, Epon, Spurr, LR White, Mass loss
Autoři
Vydáno
4. 8. 2014
Místo
Hartford, USA
Strany počet
2
BibTex
@misc{BUT121044, author="Veronika {Novotná}", title="Investigation of Electron Beam Induced Mass Loss of Embedding media in the Low Voltage STEM", year="2014", pages="2", address="Hartford, USA", note="abstract" }