Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
KASPAR, P.
Originální název
Local electron-sample interaction during scanning electron microscopy on organic and metallic objects
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
To ascertain how high energy of an electron is needed to acquire a sufficient data yield from organic and metallic sample, a Monte Carlo algorithm is used to compare the behaviour of electrons after contact with the material. Primary electron trajectory, elastic and inelastic scattering and secondary electron generation are described in this paper.
Klíčová slova
SEM, Monte Carlo, Electron scattering, Secondary electron
Autoři
Vydáno
28. 4. 2016
Nakladatel
Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Místo
Brno
ISBN
978-80-214-5350-0
Kniha
Student EEICT Proceedings of the 22nd Student Competition Conference
Číslo edice
1
Strany od
738
Strany do
742
Strany počet
5
BibTex
@inproceedings{BUT124370, author="Pavel {Kaspar}", title="Local electron-sample interaction during scanning electron microscopy on organic and metallic objects", booktitle="Student EEICT Proceedings of the 22nd Student Competition Conference", year="2016", number="1", pages="738--742", publisher="Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií", address="Brno", isbn="978-80-214-5350-0" }