Detail publikace

Nano-struktura přirozeného a vodivou vrstvou pokrytého povrchu epoxidové pryskyřice s SiO2 nanočásticemi v podmínkách klasického REM a EREM

HUDEC, J. NEDĚLA, V. TIHLAŘÍKOVÁ, E.

Originální název

Nano-struktura přirozeného a vodivou vrstvou pokrytého povrchu epoxidové pryskyřice s SiO2 nanočásticemi v podmínkách klasického REM a EREM

Anglický název

Nano-structure of natural and conductive layer coated surface of epoxy resin with SiO2 nanoparticles in terms of classical SEM and ESEM

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Článek prezentuje současné možnosti laboratoře environmentální elektronové mikroskopie ÚPT AVČR v Brně při zobrazování povrchových nanostruktur epoxidové pryskyřice s nanočásticemi. Výsledky poukazují na morfologické artefakty vznikající pokovením vzorku či jeho odpařováním vlivem tepelných účinků elektronového svazku a dále přináší možnost porovnání zobrazení vzorků v podmínkách blížících se vakuu a při relativně vysokém tlaku plynů environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu. Vzorky jsou v podmínkách relativně vysokého tlaku plynů zobrazovány ve zcela přirozeném stavu a vzhledem k tomu s velmi vysokým rozlišením pomocí upraveného EREM QUANTA 650 FEG.

Anglický abstrakt

The paper presents the current possibilities of the environmental electron microscopy laboratory at the ISI CAS in Brno in imaging epoxy resin surface nanostructures with nanoparticles. The results show morphological artifacts emerging due to sample coating or its evaporation caused by the thermal effects of the electron beam, and further provide a comparison between samples observed under the conditions approaching vacuum and samples observed under a relatively high gas pressure in the environmental scanning electron microscope. Samples are displayed in a completely natural state in a relatively high gas pressure and, given the environmental conditions, at a very high resolution in a modified ESEM QUANTA 650 FEG.

Klíčová slova

REM, EREM, epoxidová pryskyřice, nanočástice, vodivá vrstva, morfologické artefakty

Klíčová slova v angličtině

SEM, ESEM, epoxy resin, nanoparticles, conductive layer, morphological artifacts

Autoři

HUDEC, J.; NEDĚLA, V.; TIHLAŘÍKOVÁ, E.

Vydáno

1. 3. 2017

Nakladatel

Nakladatelství Fyzikálního ústavu AV ČR, v. v. i.

ISSN

0447-6441

Periodikum

Jemná mechanika a optika

Ročník

2017

Číslo

3

Stát

Česká republika

Strany od

75

Strany do

77

Strany počet

3

URL

https://fyzika.upol.cz/cs/akce-pro-verejnost/casopis-jemna-mechanika-optika

BibTex

@article{BUT134363,
  author="Jiří {Hudec} and Vilém {Neděla} and Eva {Tihlaříková}",
  title="Nano-struktura přirozeného a vodivou vrstvou pokrytého povrchu epoxidové pryskyřice s SiO2 nanočásticemi v podmínkách klasického REM a EREM",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="2017",
  volume="2017",
  number="3",
  pages="75--77",
  issn="0447-6441",
  url="https://fyzika.upol.cz/cs/akce-pro-verejnost/casopis-jemna-mechanika-optika"
}