Detail publikace

Noise Spectral Density and Reliability of Tantalum Capacitors

ŠIKULA, J., KOKTAVÝ, B., HRUŠKA, P., VAŠINA, P., KOKTAVÝ, P., HÁJEK, K.

Originální název

Noise Spectral Density and Reliability of Tantalum Capacitors

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Noise Spectral Density and Reliability of Tantalum Capacitors

Klíčová slova v angličtině

tantalum capacitor, reliability, noise

Autoři

ŠIKULA, J., KOKTAVÝ, B., HRUŠKA, P., VAŠINA, P., KOKTAVÝ, P., HÁJEK, K.

Vydáno

24. 3. 1997

Místo

Florida, USA

Strany od

298

Strany do

303

Strany počet

6

BibTex

@inproceedings{BUT16648,
  author="Josef {Šikula} and Bohumil {Koktavý} and Pavel {Hruška} and Pavel {Vašina} and Pavel {Koktavý} and Karel {Hájek}",
  title="Noise Spectral Density and Reliability of Tantalum Capacitors",
  booktitle="17th Capacitor and Resistor Technology Symposium CARTS’97",
  year="1997",
  pages="6",
  address="Florida, USA"
}