Detail publikace

ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE

Michal Raška, Pavel Koktavý

Originální název

ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE

Anglický název

Microplasma noise - finding G-R coefficients

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Vznik šumu mikroplazmy je podmíněn nedokonalostmi krystalické mřížky PN přechodu. Oblasti těchto defektů se mohou vyznačovat nižší hodnotou průrazného napětí v závěrném stavu než zbytek PN přechodu. Při dosažení určité hodnoty napětí na PN přechodu potom dochází v jejich okolí k lokálním lavinovým průrazům. Tyto lokální průrazy se pak mohou projevovat ve vnějším obvodě impulzním proudovým šumem, kdy jednotlivé impulzy mají náhodnou dobu vzniku a náhodnou dobu trvání. Proudový šum je závislý na napětí, s rostoucí hodnotou závěrného napětí na PN přechodu roste četnost impulzů a zároveň i jejich střední doba trvání. Bistabilní chování oblasti mikroplazmy lze pak za určitých okolností popsat dvoustavovým stochastickým procesem generace – rekombinace.

Anglický abstrakt

The occurence of microplasma regions in PN junctions is attributed to crystal lattice imperfections. As a rule, these regions feature lower strong-field avalanche ionization breakdown voltages than other homogenous PN junction regions. The existence of such regions may lead to local avalanche breakdowns occuring in reverse-biased PN junctions at certain voltage. These local avalanche breakdowns affect course of VA characteristics. VA characteristics can exhibit regions with negative differential resistance in certain conditions and number of these regions correspond to number of microplasma regions in PN junction.

Klíčová slova v angličtině

PN jnction, semicondactor, breakdown, avalanche, generation, recombination

Autoři

Michal Raška, Pavel Koktavý

Rok RIV

2006

Vydáno

29. 11. 2006

Nakladatel

Brno University of Technology

Místo

Brno

ISBN

80-7204-487-7

Kniha

Non-Destructive Testing in Engineering Practice

Číslo edice

1

Strany od

135

Strany do

138

Strany počet

4

BibTex

@inproceedings{BUT22110,
  author="Michal {Raška} and Pavel {Koktavý}",
  title="ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE",
  booktitle="Non-Destructive Testing in Engineering Practice",
  year="2006",
  number="1",
  pages="4",
  publisher="Brno University of Technology",
  address="Brno",
  isbn="80-7204-487-7"
}