Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
J. Jirák, J. Linhart and V. Neděla
Originální název
Scintillation SE Detector for Variable Pressure Microscopes
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
This paper deals with secondary electrons detection in the ESEM via the entirely new type of scintillation detector. It is shown a way of using scitillation detector in the condition of elevated pressure conditions.
Klíčová slova
secondary electron, environmental scanning electron microscopy, scintillation detector
Autoři
Rok RIV
2006
Vydáno
22. 5. 2006
Nakladatel
Institute of Scientific Instruments AS CR and the Czechoslovak Microscopy Society
Místo
Brno
ISBN
80-239-6285-X
Kniha
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation
Strany od
37
Strany do
38
Strany počet
2
BibTex
@inproceedings{BUT24371, author="Josef {Jirák} and Jan {Linhart} and Vilém {Neděla}", title="Scintillation SE Detector for Variable Pressure Microscopes", booktitle="Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation", year="2006", volume="10", pages="2", publisher="Institute of Scientific Instruments AS CR and the Czechoslovak Microscopy Society", address="Brno", isbn="80-239-6285-X" }