Detail publikace

Skenování materiálů lokální optickou sondou v blízkém poli

ŠKARVADA, P. TOMÁNEK, P. MACKŮ, R.

Originální název

Skenování materiálů lokální optickou sondou v blízkém poli

Anglický název

Near-field local optical probe sample scanning

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

V článku je popsán základní princip a možnosti mikroskopie se skenující lokální optickou sondou v blízkém poli. Je ukázáno spektrum fotoluminiscence kvantových teček InAs/GaAs, topografie a lokální odrazivost povrchu téhož vzorku. Vzhledem ke stejnému místu na povrchu vzorku při pořízení snímku topografie a lokální odrazivosti lze pozorovat korelaci mezi zmíněnými obrázky. Dále je předvedeno možné schéma mikroskopu pro měření lokální fotoluminiscence s detekcí ve vzdáleném poli. Spektrum generované fotoluminiscence vzorku kvantových teček při buzení zeleným laserovým světlem o vlnové délce lambda= 488 nm je dominantní na vlnové délce 1325 nm při teplotě okolí 300 K.

Anglický abstrakt

In this paper is described principle of near-field optical scanning microscope and using potentials for nondestructive testing. There is shown topography image, photoluminescence spectrum and local reflectance image of InAs/GaAs quantum dots sample. It is possible to see correlation between topography image and local reflectance image, because both image are taken from the same location of the sample surface. Detection of local photoluminescence is possible in far-field as is shown in idea scheme. Spectrum of quantum dots generated photoluminescence excited by green laser (lambda = 488 nm) has dominant wavelength 1325 nm (ambient temperature 300 K).

Klíčová slova

SNOM, mikroskopie, fotoluminiscence

Klíčová slova v angličtině

SNOM, microscopy, photoluminescence

Autoři

ŠKARVADA, P.; TOMÁNEK, P.; MACKŮ, R.

Rok RIV

2007

Vydáno

29. 11. 2007

Nakladatel

Brno University of Technology

Místo

Brno

ISBN

978-80-7204-549-5

Kniha

5th Workshop NDT 2007. Non-destructive testing in engineering practice

Číslo edice

1

Strany od

150

Strany do

154

Strany počet

4

BibTex

@inproceedings{BUT25514,
  author="Pavel {Škarvada} and Pavel {Tománek} and Robert {Macků}",
  title="Skenování materiálů lokální optickou sondou v blízkém poli",
  booktitle="5th Workshop NDT 2007. Non-destructive testing in engineering practice",
  year="2007",
  number="1",
  pages="150--154",
  publisher="Brno University of Technology",
  address="Brno",
  isbn="978-80-7204-549-5"
}