Detail publikace

Detection of secondary electrons by scintillation detector at VP SEM

JIRÁK, J. ČUDEK, P. NEDĚLA, V.

Originální název

Detection of secondary electrons by scintillation detector at VP SEM

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

This article deals with scintillation secondary electron detrector for variable pressure scanning electron microscope

Klíčová slova

Variable pressure scanning electron microscope, secondary electron, scintillation detector

Autoři

JIRÁK, J.; ČUDEK, P.; NEDĚLA, V.

Rok RIV

2011

Vydáno

7. 8. 2011

ISSN

1431-9276

Periodikum

MICROSCOPY AND MICROANALYSIS

Ročník

2

Číslo

17

Stát

Spojené státy americké

Strany od

922

Strany do

923

Strany počet

2

BibTex

@article{BUT73821,
  author="Josef {Jirák} and Pavel {Čudek} and Vilém {Neděla}",
  title="Detection of secondary electrons by scintillation detector at VP SEM",
  journal="MICROSCOPY AND MICROANALYSIS",
  year="2011",
  volume="2",
  number="17",
  pages="922--923",
  issn="1431-9276"
}