Detail publikace

Užití systémů CAE k analýze detektoru sekundárních elektronů pro EREM

VYROUBAL, P.

Originální název

Užití systémů CAE k analýze detektoru sekundárních elektronů pro EREM

Anglický název

Using computer aided enineering for analyse the detector

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Tento článek se zabývá porovnáním a vyhodnocením vlivu tvaru Lavalovy dýzy v clonkách scintilačního detektoru na výsledný tlak na dráze sekundárních elektronů environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu s využitím CAE a CAD systémů.

Anglický abstrakt

This article deals with the comparison and evaluation of the influence shape Laval nozzle in screening secondary detector to the resulting pressure and gas flow on the lane at the secondary electron scintillation detector for Environmental scanning electron microscope with using Computer Aided Design and Computer Aided Engineering.

Klíčová slova v angličtině

EREM, CAD, CAE, electron microscope, scintillation detector, environmentally scanning electron microscope, Lavals nozzle, SolidWorks, gas flow

Autoři

VYROUBAL, P.

Rok RIV

2011

Vydáno

24. 10. 2011

Místo

Plzeň

ISBN

978-80-261-0016-4

Kniha

Elektrotechnika a informatika 2011

Číslo edice

1

Strany od

157

Strany do

160

Strany počet

4

BibTex

@inproceedings{BUT74404,
  author="Petr {Vyroubal}",
  title="Užití systémů CAE k analýze detektoru sekundárních elektronů pro EREM",
  booktitle="Elektrotechnika a informatika 2011",
  year="2011",
  number="1",
  pages="157--160",
  address="Plzeň",
  isbn="978-80-261-0016-4"
}