Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Project detail
Duration: 01.03.2006 — 31.12.2010
Funding resources
Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR - Centra základního výzkumu
- whole funder (2006-03-01 - 2010-12-31)
On the project
Cílem je nalézt nebo vytvořit nanostruktury s možným uplatněním ve fotonických nebo elektronických součástkách a vytypovat funkčních vlastností těchto nanostruktur.Indikátory dosažení A) Nalezení a zavedení nových metod tvorby: Selektivní růst nanostruktur na bázi řízeného samouspořádávání. Tvorba nanodrátů zejména elektrolýzou, respektive pomocí katalytických nanočástic. B) Získání poznatků a zkušeností o principech a zákonitostech určujících vlastnosti a chování nanostrutur: Charakterizace lokálních elektrických vlastností nanodrátů. Charakterizace rozhraní mezi nanostrukturami. Lokální měření fotoodezvy nanostruktur. Plazmonové polaritony v kovových nanostrukturách. Vlastnosti rezonančních plazmonických nanoantén. Povrchově funkcionalizované nanostruktury pro cílené řízení interakce nanostruktur navzájem a se svým okolím. Prostředky ověření Výsledky budou publikovány formou článků a prezentovány na konferencích.
Description in EnglishThe main goal is to fabricate nanostructures with a potential application in photonic and/or electronic devices and to specify functional properties of these nanostructures.Indicators of achievements A) Finding and introduction of novel methods of fabrication: Selective growth of nanostructures utilizing a guided self-assembly. Preparation of nanowires, especially by electrolysis or by catalytic nanoparticles. B) Acquiring knowledge and experience on principles responsible for properties and behaviour of nanostructures: Characterisation of local electric properties of nanowires.Characterisation of interfaces between nanostructures. Local measurements of photoresponse of nanostructures Plasmon polaritons in metallic nanostructures. Properties of resonant plasmonic nanoantennas. Surface functionalised nanostructures for the targeted control of interactions between them and with the surroundings.
Keywordsnanostruktury, lokální anodická oxidace (LAO), SPM, řízené samouspořádávání, lokální vodivost, plazmonika, nanofotonika, nanoelektronika
Key words in EnglishNanostructures, local anodic oxidation (LAO), SPM, guided self-assembly, local conductivity, plasmonics, nanofotonics, nanoelectronics
Mark
LC06040
Default language
Czech
People responsible
Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc. - principal person responsible
Units
Institute of Physical Engineering- beneficiary (2006-03-01 - 2010-12-31)
Results
ČECHAL, J.; MACH, J.; VOBORNÝ, S.; KOSTELNÍK, P.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A study of Ga layers on Si(100)-(2x1) by SR-PES: influence of adsorbed water. Surface Science, 2007, vol. 601, no. 9, p. 2047-2053. ISSN: 0039-6028.Detail
KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NOVÁK, L.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Controlled faceting in (110) germanium nanowire growth by switching between vapor-liquid-solid and vapor-solid-solid growth. Applied Physics Letters, 2012, vol. 100, no. 20, p. 203102-1 (203102-4 p.)ISSN: 0003-6951.Detail
SCHMID, M.; REICHO, A.; STIERLE, A.; COSTINA, I.; KLIKOVITS, J.; KOSTELNÍK, P.; DUBAY, O.; KRESSE, G.; GUSTAFSON, J.; LUNDGREN, E.; ANDERSEN, J.; DOSCH, H.; VARGA, P. Structure of Ag(111)-p(4x4)-O: No Silver Oxide. Physical Review Letters, 2006, vol. 96, no. 14, p. 146102-4. ISSN: 0031-9007.Detail
ČERVENKA, J.; KALOUSEK, R.; BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; ŠIKOLA, T. Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(1 0 0) by local anodic oxidation. Applied Surface Science, 2006, vol. 253, no. 5, p. 2373-2378. ISSN: 0169-4332.Detail
ČECHAL, J.; KOLÍBAL, M.; KOSTELNÍK, P.; ŠIKOLA, T. Gallium structure on the Si(111)-(7 x 7) surface: influence of Ga coverage and temperature. Journal of Physics: Condensed Matter, 2007, vol. 19, no. 1, p. 016011 ( p.)ISSN: 0953-8984.Detail
BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. The influence of humidity on the kinetics of local anodic oxidation. Journal of Physics: Conference Series, 2007, vol. 61, no. 0, p. 75-79. ISSN: 1742-6588.Detail
PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; ZEPPENFELD, P.; BAUER, P.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Quantitative analysis of ultra thin layer growth by time-of-flight low energy ion scattering. Applied Physics Letters, 2008, vol. 92, no. 1, p. 011929-1 (011929-3 p.)ISSN: 0003-6951.Detail
KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; MARKIN, S.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. TOF-LEIS spectra of Ga/Si: Peak shape analysis. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2007, vol. 265, no. 2, p. 569-575. ISSN: 0168-583X.Detail
KOSTELNÍK, P.; SERIANI, N.; KRESSE, G.; MIKKELSEN, A.; LUNDGREN, E.; BLUM, V.; ŠIKOLA, T.; VARGA, P.; SCHMID, M. The Pd(100)-(SQRT(5)xSQRT(5))R27-O surface oxide: a LEED, DFT and STM study. Surface Science, 2007, vol. 601, no. 6, p. 1574-1581. ISSN: 0039-6028.Detail
MACH, J.; ČECHAL, J.; KOLÍBAL, M.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T. Atomic hydrogen induced gallium nanocluster formation on the Si(100) surface. Surface Science, 2008, vol. 602, no. 10, p. 1898-1902. ISSN: 0039-6028.Detail
POTOČEK, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Využití termální desorpční spektroskopie při studiu povrchové kontaminace. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 217-218. ISSN: 0447-6441.Detail
ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Formation of copper islands on a native SiO2 surface at elevated temperatures. Applied Surface Science, 2010, vol. 256, no. 11, p. 3636-3641. ISSN: 0169-4332.Detail
KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Stability of hydrogen-terminated silicon surface under ambient atmosphere. Applied Surface Science, 2010, vol. 256, no. 11, p. 3423-2426. ISSN: 0169-4332.Detail
KOLÍBAL, M.; ČECHAL, T.; KOLÍBALOVÁ, E.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Self-limiting cyclic growth of gallium droplets on Si(111). NANOTECHNOLOGY, 2008, vol. 19, no. 46, p. 475606-1 (475606-5 p.)ISSN: 0957-4484.Detail
URBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; BÁBOR, P.; KOLÍBALOVÁ, E.; HRNČÍŘ, T.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Focused ion beam fabrication of spintronic nanostructures: an optimization of the milling process. NANOTECHNOLOGY, 2010, vol. 21, no. 14, p. 145304-1 (145304-7 p.)ISSN: 0957-4484.Detail
ČECHAL, J.; LUKSCH, J.; KOŇÁKOVÁ, K.; URBÁNEK, M.; KOLÍBALOVÁ, E.; ŠIKOLA, T. Morphology of cobalt layers on native SiO2 surfaces at elevated temperatures: formation of Co islands. Surface Science, 2008, vol. 602, no. 15, p. 2693-2698. ISSN: 0039-6028.Detail
KOSTELNÍK, P.; ŠIKOLA, T.; SCHMID, M.; VARGA, P. A LEED study of NO superstructures on the Pd(111) surface. Journal of Physics: Condensed Matter, 2009, vol. 21, no. 13, p. 134005-1 (134005-7 p.)ISSN: 0953-8984.Detail
POLČÁK, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; URBÁNEK, M.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T. Angle-resolved XPS depth profiling of modeled structures: testing and improvement of the method. Surface and Interface Analysis, 2010, vol. 42, no. 5-6, p. 649-652. ISSN: 0142-2421.Detail
ŠIKOLA, T.; KEKATPURE, R.; BARNARD, E.; WHITE, J.; VAN DORPE, P.; BŘÍNEK, L.; TOMANEC, O.; ZLÁMAL, J.; LEI, D.; SONNEFRAUD, Y.; MAIER, S.; HUMLÍČEK, J.; BRONGERSMA, M. Mid-IR plasmonic antennas on silicon-rich oxinitride absorbing substrates: Nonlinear scaling of resonance wavelengths with antenna length. Applied Physics Letters, 2009, vol. 95, no. 25, p. 253109-1 (253109-3 p.)ISSN: 0003-6951.Detail
POLČÁK, J.; BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Manipulátor vzorku pro rentgenovou fotoelekronovou spektroskopii do velmi vysokého vakua. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 215-216. ISSN: 0447-6441.Detail
PLŠEK, R.; UHLÍŘ, V.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Měření magnetických vlastností tenkých vrstev pomocí magnetooptického Kerrova jevu. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 184-186. ISSN: 0447-6441.Detail
TOMANEC, O.; HRNČÍŘ, T.; LOVICAR, L.; ŠUSTR, L.; BŘÍNEK, L.; KALOUSEK, R.; CHMELÍK, R.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Studium vlastností mikro- a nanostruktur v oblasti plazmoniky na Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 187-189. ISSN: 0447-6441.Detail
BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NEUMAN, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Mechanika iontů jako prostředek k analýze nanosvěta. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 209-214. ISSN: 0447-6441.Detail
BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Role of humidity in local anodic oxidation: A study of water condensation and electric field distribution. PHYSICAL REVIEW B, 2009, vol. 79, no. 19, p. 195406-195412. ISSN: 1098-0121.Detail
ČECHAL, J.; TOMANEC, O.; ŠKODA, D.; KOŇÁKOVÁ, K.; HRNČÍŘ, T.; MACH, J.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Selective growth of Co islands on ion beam induced nucleation centers in a native SiO2 film. Journal of Aplied Physics, 2009, vol. 105, no. 8, p. 084314-1 (084314-6 p.)ISSN: 0021-8979.Detail
ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; TOMANEC, O.; ŠIKOLA, T. Řízený růst kobaltových ostrůvků na křemíkovém substrátu. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 222-224. ISSN: 0447-6441.Detail
ŠKODA, D.; KALOUSEK, R.; TOMANEC, O.; BARTOŠÍK, M.; BŘÍNEK, L.; ŠUSTR, L.; ŠIKOLA, T. Studium optických vlastností nanostruktur pomocí mikroskopie blízkého pole. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 219-222. ISSN: 0447-6441.Detail
SPOUSTA, J.; ZLÁMAL, J.; URBÁNEK, M.; BĚHOUNEK, T.; PLŠEK, R.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Citlivostní analýza vyhodnocování optických parametrů tenkých vrstev (aneb jaké jsou naše šance získat věrohodný výsledek fitováním spekter odrazivosti). Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 225-228. ISSN: 0447-6441.Detail
BARTOŠÍK, M.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Selective growth of metallic nanostructures on surfaces patterned by AFM local anodic oxidation. JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, 2009, vol. 9, no. 10, p. 5887-5890. ISSN: 1533-4880.Detail
ČECHAL, J.; MATLOCHA, T.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Characterization of oxidized gallium droplets on silicon surface: an ellipsoidal droplet shape model for angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy analysis. Thin Solid Films, 2009, vol. 517, no. 6, p. 1928-1934. ISSN: 0040-6090.Detail
MATLOCHA, T.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. A study of a LEIS azimuthal scan behavior: Classical dynamics simulation. Surface Science, 2010, vol. 604, no. 21-22, p. 1906-1911. ISSN: 0039-6028.Detail
KOLÍBAL, M.; MATLOCHA, T.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Low energy focused ion beam milling of silicon and germanium nanostructures. NANOTECHNOLOGY, 2011, vol. 22, no. 10, p. 105304-1 (105304-8 p.)ISSN: 0957-4484.Detail
KOH, A.; TOMANEC, O.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T.; MAIER, S.; MCCOMB, D. HRTEM and EELS of nanoantenna structures fabricated using focused ion beam techniques. Journal of Physics: Conference Series, 2010, vol. 241, no. 1, p. 012041-1 (012041-4 p.)ISSN: 1742-6588.Detail
BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Depth resolution enhancement by combined DSIMS and TOF-LEIS profiling. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2011, vol. 269, no. 3, p. 369-373. ISSN: 0168-583X.Detail
PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF-LEIS. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2007, vol. 111, no. 3, p. 335-341. ISSN: 0587-4246.Detail
BÁBOR, P.; MAŠEK, K. Metody povrchové a tenkovrstvové analýzy prvkového složení (XPS, AES, SIMS), dirfrakce elektronů. Materials Structure, 2011, roč. 2011, č. 18, s. 251-257. ISSN: 1211-5894.Detail
MACH, J.; ŠAMOŘIL, T.; VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. An ultra-low energy (30–200 eV) ion-atomic beam source for ion-beam-assisted deposition in ultrahigh vacuum. Review of Scientific Instruments, 2011, vol. 82, no. 8, p. 083302-1 (083302-7 p.)ISSN: 0034-6748.Detail
KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; NOVÁK, L.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. In-situ observation of <110> oriented Ge nanowire growth and associated collector droplet behavior. Applied Physics Letters, 2011, vol. 99, no. 14, p. 143113-1 (143113-3 p.)ISSN: 0003-6951.Detail
MACH, J.; PROCHÁZKA, P.; SEREGIN, A.: Pec; Vysokoteplotní vakuová pec pro růst grafenových struktur. A2/518. (funkční vzorek)Detail
MACH, J.; ŠIKOLA, T.: Efuzní cela (Ag); Efuzní cela-zdroj atomů o termální energii (Ag). A2/518. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (funkční vzorek)Detail
LOVICAR, L.; VOBORNÝ, S.; ŠAMOŘIL, T.: Fotoluminiscenční sestava; Sestava pro měření integrálních a lokálních (foto)luminiscenčních vlastností souborů nanostruktur. A2/218. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (funkční vzorek)Detail
ŠKODA, D.; OSTŘÍŽEK, P.; MINARIKOVÁ, M.; ŠIKOLA, T.: Aparatura na výrobu nanovláken; Aparatura na výrobu kovových nanovláken. A2/518. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (funkční vzorek)Detail
BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T.: Ježek; Ultravakuová aparatura pro přípravu nanostruktur metodou MBE. A2/518. (funkční vzorek)Detail