Cílem je nalézt nebo vytvořit nanostruktury s možným uplatněním ve fotonických nebo elektronických součástkách a vytypovat funkčních vlastností těchto nanostruktur.Indikátory dosažení A) Nalezení a zavedení nových metod tvorby: Selektivní růst nanostruktur na bázi řízeného samouspořádávání. Tvorba nanodrátů zejména elektrolýzou, respektive pomocí katalytických nanočástic. B) Získání poznatků a zkušeností o principech a zákonitostech určujících vlastnosti a chování nanostrutur: Charakterizace lokálních elektrických vlastností nanodrátů. Charakterizace rozhraní mezi nanostrukturami. Lokální měření fotoodezvy nanostruktur. Plazmonové polaritony v kovových nanostrukturách. Vlastnosti rezonančních plazmonických nanoantén. Povrchově funkcionalizované nanostruktury pro cílené řízení interakce nanostruktur navzájem a se svým okolím. Prostředky ověření Výsledky budou publikovány formou článků a prezentovány na konferencích.

Description in English
The main goal is to fabricate nanostructures with a potential application in photonic and/or electronic devices and to specify functional properties of these nanostructures.Indicators of achievements A) Finding and introduction of novel methods of fabrication: Selective growth of nanostructures utilizing a guided self-assembly. Preparation of nanowires, especially by electrolysis or by catalytic nanoparticles. B) Acquiring knowledge and experience on principles responsible for properties and behaviour of nanostructures: Characterisation of local electric properties of nanowires.Characterisation of interfaces between nanostructures. Local measurements of photoresponse of nanostructures Plasmon polaritons in metallic nanostructures. Properties of resonant plasmonic nanoantennas. Surface functionalised nanostructures for the targeted control of interactions between them and with the surroundings.

Keywords
nanostruktury, lokální anodická oxidace (LAO), SPM, řízené samouspořádávání, lokální vodivost, plazmonika, nanofotonika, nanoelektronika

Key words in English
Nanostructures, local anodic oxidation (LAO), SPM, guided self-assembly, local conductivity, plasmonics, nanofotonics, nanoelectronics

LC06040

Czech

Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc. - principal person responsible

Institute of Physical Engineering
- responsible department (1.1.1989 - not assigned)
Institute of Physical Engineering
- beneficiary (1.3.2006 - 31.12.2010)

KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NOVÁK, L.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Controlled faceting in (110) germanium nanowire growth by switching between vapor-liquid-solid and vapor-solid-solid growth. Applied Physics Letters, 2012, vol. 100, no. 20, p. 203102-1 (203102-4 p.)ISSN: 0003-6951.
Detail

BÁBOR, P.; MAŠEK, K. Metody povrchové a tenkovrstvové analýzy prvkového složení (XPS, AES, SIMS), dirfrakce elektronů. Materials Structure, 2011, roč. 2011, č. 18, s. 251-257. ISSN: 1211-5894.
Detail

MACH, J.; PROCHÁZKA, P.; SEREGIN, A.: Pec; Vysokoteplotní vakuová pec pro růst grafenových struktur. A2/518. (funkční vzorek)
Detail

MACH, J.; ŠAMOŘIL, T.; VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. An ultra-low energy (30–200 eV) ion-atomic beam source for ion-beam-assisted deposition in ultrahigh vacuum. Review of Scientific Instruments, 2011, vol. 82, no. 8, p. 083302-1 (083302-7 p.)ISSN: 0034-6748.
Detail

KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; NOVÁK, L.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. In-situ observation of <110> oriented Ge nanowire growth and associated collector droplet behavior. Applied Physics Letters, 2011, vol. 99, no. 14, p. 143113-1 (143113-3 p.)ISSN: 0003-6951.
Detail

MACH, J.; ŠIKOLA, T.: Efuzní cela (Ag); Efuzní cela-zdroj atomů o termální energii (Ag). A2/518. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (funkční vzorek)
Detail

LOVICAR, L.; VOBORNÝ, S.; ŠAMOŘIL, T.: Fotoluminiscenční sestava; Sestava pro měření integrálních a lokálních (foto)luminiscenčních vlastností souborů nanostruktur. A2/218. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (funkční vzorek)
Detail

ŠKODA, D.; OSTŘÍŽEK, P.; MINARIKOVÁ, M.; ŠIKOLA, T.: Aparatura na výrobu nanovláken; Aparatura na výrobu kovových nanovláken. A2/518. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (funkční vzorek)
Detail

BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T.: Ježek; Ultravakuová aparatura pro přípravu nanostruktur metodou MBE. A2/518. (funkční vzorek)
Detail

BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Depth resolution enhancement by combined DSIMS and TOF-LEIS profiling. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2011, vol. 269, no. 3, p. 369-373. ISSN: 0168-583X.
Detail

KOH, A.; TOMANEC, O.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T.; MAIER, S.; MCCOMB, D. HRTEM and EELS of nanoantenna structures fabricated using focused ion beam techniques. Journal of Physics: Conference Series, 2010, vol. 241, no. 1, p. 012041-1 (012041-4 p.)ISSN: 1742-6588.
Detail

KOLÍBAL, M.; MATLOCHA, T.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Low energy focused ion beam milling of silicon and germanium nanostructures. NANOTECHNOLOGY, 2011, vol. 22, no. 10, p. 105304-1 (105304-8 p.)ISSN: 0957-4484.
Detail

MATLOCHA, T.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. A study of a LEIS azimuthal scan behavior: Classical dynamics simulation. Surface Science, 2010, vol. 604, no. 21-22, p. 1906-1911. ISSN: 0039-6028.
Detail

ČECHAL, J.; MATLOCHA, T.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Characterization of oxidized gallium droplets on silicon surface: an ellipsoidal droplet shape model for angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy analysis. Thin Solid Films, 2009, vol. 517, no. 6, p. 1928-1934. ISSN: 0040-6090.
Detail

BARTOŠÍK, M.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Selective growth of metallic nanostructures on surfaces patterned by AFM local anodic oxidation. JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, 2009, vol. 9, no. 10, p. 5887-5890. ISSN: 1533-4880.
Detail

SPOUSTA, J.; ZLÁMAL, J.; URBÁNEK, M.; BĚHOUNEK, T.; PLŠEK, R.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Citlivostní analýza vyhodnocování optických parametrů tenkých vrstev (aneb jaké jsou naše šance získat věrohodný výsledek fitováním spekter odrazivosti). Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 225-228. ISSN: 0447-6441.
Detail

ŠKODA, D.; KALOUSEK, R.; TOMANEC, O.; BARTOŠÍK, M.; BŘÍNEK, L.; ŠUSTR, L.; ŠIKOLA, T. Studium optických vlastností nanostruktur pomocí mikroskopie blízkého pole. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 219-222. ISSN: 0447-6441.
Detail

ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; TOMANEC, O.; ŠIKOLA, T. Řízený růst kobaltových ostrůvků na křemíkovém substrátu. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 222-224. ISSN: 0447-6441.
Detail

ČECHAL, J.; TOMANEC, O.; ŠKODA, D.; KOŇÁKOVÁ, K.; HRNČÍŘ, T.; MACH, J.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Selective growth of Co islands on ion beam induced nucleation centers in a native SiO2 film. Journal of Aplied Physics, 2009, vol. 105, no. 8, p. 084314-1 (084314-6 p.)ISSN: 0021-8979.
Detail

BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Role of humidity in local anodic oxidation: A study of water condensation and electric field distribution. PHYSICAL REVIEW B, 2009, vol. 79, no. 19, p. 195406-195412. ISSN: 1098-0121.
Detail

Responsibility: Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc.