Tvůrčí aktivity

• Majzner J., Sikula J.,Sadovsky M.: DisPot; Zařízení pro měření rozložení potenciálu na povrchu pevných látek. UFYZ. (prototyp)
  Detail

• Karel Liedermann, Lubomír Grmela, Vladimír Holcman, Rostislav Stráník, Tomáš Palai-Dany, Jiří Majzner, Radovan Jiřík: Zařízení DRS; Měřič dielektrických spekter. Ústav fyziky, FEKT VUT, Technická 8, 616 00 Brno. URL: http://www.feec.vutbr.cz. (ověřená technologie)
  http://www.feec.vutbr.cz, počet stažení: 2
  Detail

• Sedlák P., Majzner J., Šikula J., Grmela L.: WBAES; Širokopásmový piezokeramický senzor akustické emise. UFYZ. (prototyp)
  Detail

• Sikula J., Grmela L., Sedlak P., Majzner J.: LTC1010; Tester nelinearity. UFYZ. (prototyp)
  Detail

• Sedlák P., Šikula J., Majzner J., Grmela L.: UA100KHZ; Ultrazvukový aktuátor s pracovní frekvencí 100kHz. UFYZ. (prototyp)
  Detail

• Šikula J., Sedlák P., Majzner J., Hájek K.: WPD100; Výkonový zesilovač pro buzení ultrazvukových aktuátorů. UFYZ. (prototyp)
  Detail

• ŠIKULA, J.; SEDLÁKOVÁ, V.; MAJZNER, J.; SEDLÁK, P.: LCMS; Zařízení pro měření zbytkového proudu kondenzátoru. http://www.ufyz.feec.vutbr.cz. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/index.php?lang=1&page=86. (funkční vzorek)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/index.php?lang=1&page=86, počet stažení: 2
  Detail

• MAJZNER, J.; SEDLÁK, P.; TOFEL, P.; GRMELA, L.: medivik; Měřící systém pro diagnostiku vibrací krystalizátoru. ústav fyziky. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/index.php?lang=1&page=86. (funkční vzorek)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/index.php?lang=1&page=86, počet stažení: 3
  Detail

• MAJZNER, J.; HÁJEK, K.; SEDLÁK, P.; CSÉFALVAY, G.; GRMELA, L.; TOFEL, P.: MRM; Zařízení pro měření zbytkového magnetického pole sochoru. http://www.ufyz.feec.vutbr.cz. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/index.php?lang=1&page=86. (funkční vzorek)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/index.php?lang=1&page=86, počet stažení: 3
  Detail

• TOFEL, P.; SEDLÁK, P.; MAJZNER, J.; GRMELA, L.; CSÉFALVAY, G.: ladis; Laserový diagnostický systém pro identifikaci defektu na povrchu materiálu. http://www.ufyz.feec.vutbr.cz. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/index.php?lang=1&page=86. (funkční vzorek)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/index.php?lang=1&page=86, počet stažení: 3
  Detail

• TOFEL, P.; MAJZNER, J.; SEDLÁK, P.; CSÉFALVAY, G.; GRMELA, L.: KRYS; Kompenzační rychlostní snímač KRYS. http://www.ufyz.feec.vutbr.cz. (funkční vzorek)
  Detail

• CHVÁTAL, M.; MAJZNER, J.; GRMELA, L.: HS181257046; Nízkošumový multiplexer pro héliový kryostat. http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/nizkosumovy-multiplexer-pro-heliovy-kryostat. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/nizkosumovy-multiplexer-pro-heliovy-kryostat. (funkční vzorek)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/nizkosumovy-multiplexer-pro-heliovy-kryostat, počet stažení: 2
  Detail

• CHVÁTAL, M.; MAJZNER, J.; GRMELA, L.: HS181257046; Automatizace měření výstupních charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET v héliovém kryostatu. http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/automatizace-mereni-vystupnich-charakteristik-submikronovych-tranzistoru-MOSFET-v-heliovem-kryostatu. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/automatizace-mereni-vystupnich-charakteristik-submikronovych-tranzistoru-MOSFET-v-heliovem-kryostatu. (software)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/automatizace-mereni-vystupnich-charakteristik-submikronovych-tranzistoru-MOSFET-v-heliovem-kryostatu, počet stažení: 3
  Detail

• TOFEL, P.; GRMELA, L.; SEDLÁK, P.; CSÉFALVAY, G.; MAJZNER, J.: PDS; Program pro vyhodnocení defektů a oscilačních vrásek na sochorech. http://www.ufyz.feec.vutbr.cz. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/program-pro-vyhodnoceni-defektu-a-oscilacnich-vrasek-na-sochorech. (software)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/program-pro-vyhodnoceni-defektu-a-oscilacnich-vrasek-na-sochorech, počet stažení: 1
  Detail

• HOLCMAN, V.; MACKŮ, R.; ŠKARVADA, P.; BOGATYREVA, N.; MAJZNER, J.; SEDLÁK, P.: Aut_02; Autoclave 2.1. UFYZ VUT. URL: http://www.fyzika.fekt.vutbr.cz. (software)
  http://www.fyzika.fekt.vutbr.cz, počet stažení: 2
  Detail

• MAJZNER, J.; GRMELA, L.; TOFEL, P.; SEDLÁK, P.; CSÉFALVAY, G.: CC v2.0; Počítačem řízený proudový zdroj pro napájení magnetizačních cívek. http://www.ufyz.feec.vutbr.cz. (funkční vzorek)
  Detail

• TOFEL, P.; MAJZNER, J.; SEDLÁK, P.; CSÉFALVAY, G.; GRMELA, L.: KRYS-A; Kompenzační rychlostní snímač KRYS-A. http://www.ufyz.feec.vutbr.cz. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/kompenzacni-rychlostni-snimac-KRYS-A. (funkční vzorek)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/kompenzacni-rychlostni-snimac-KRYS-A, počet stažení: 2
  Detail

• TOFEL, P.; MAJZNER, J.; SEDLÁK, P.; CSÉFALVAY, G.; GRMELA, L.: MPDS; Vícevláknový program pro vyhodnocení defektů na povrchu sochoru s výstupem pro stříkací pistoli. http://www.ufyz.feec.vutbr.cz. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/vicevlaknovy-program-pro-vyhodnoceni-defektu-na-povrchu-sochoru. (software)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/vicevlaknovy-program-pro-vyhodnoceni-defektu-na-povrchu-sochoru, počet stažení: 2
  Detail

• HOLCMAN, V.; MAJZNER, J.; KAŠPAREC, M.; ŠKARVADA, P.; KASPAR, P.; KUPAROWITZ, M.; SPOHNER, M.; TOFEL, P.: LED01; Software měření charakteristik LED diod. UFYZ FEKT VUT v Brně. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. (software)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty, počet stažení: 1
  Detail

• HOLCMAN, V.; TOFEL, P.; MAJZNER, J.: Autoclave 4.1; PLC řízení procesu vytvrzování a diagnostiky karbonových dílů pro automobilový průmysl na systému AMIT. Firma pro carbon Lipnik na Bečvou. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. (prototyp)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty, počet stažení: 1
  Detail

• HOLCMAN, V.; MAJZNER, J.; SEDLÁK, P.; TRČKA, T.; TOFEL, P.: FW06010233-V1; Monitoring výdeje a kontroly medikamentů. FEKT UFYZ. (funkční vzorek)
  Detail

Pokud je v údajích nesrovnalost, podívejte se do častých otázek k vizitkám.