Detail předmětu

Úvod do elektronové mikroskopie a mikroanalýzy

CEITEC VUT-DS131Ak. rok: 2024/2025

Cílem předmětu je poskytnout přehled technik elektronové mikroskopie a souvisejících analytických technik, které jsou široce používány v materiálovém výzkumu. Konkrétně budou probírány skenovací a transmisní elektronové mikroskopie, energiové a vlnově disperzní spektroskopie, difrakce zpětně rozptýlených elektronů a spektroskopie energiových ztrát elektronů. Pozornost bude věnována pracovnímu principu, přístrojovému vybavení a omezením každé metody.

Cílem je poskytnout dostatečně širokou škálu znalostí, aby si studenti mohli zvolit vhodnou metodu pro svůj výzkum.

 

 

 

 

 

Jazyk výuky

čeština

Garant předmětu

Ing. Ondřej Man, Ph.D.

Zajišťuje ústav

Středoevropský technologický institut VUT (CEITEC VUT)

Vstupní znalosti

Požadavky na předchozí znalosti jsou: základní fyzika (mechanika, elektřina, magnetismus a kvantová teorie) a matematika (diferenciální, integrální a maticový počet, statistika) poskytované během bakalářského / magisterského studia. Dále jsou přínosem znalosti fyziky pevných látek a krystalografie.

 

 

 

 

Pravidla hodnocení a ukončení předmětu

Znalosti studentů jsou hodnoceny formou konzultace, závěr předmětu je formou doktorské zkoušky.

 

 

 

 

Základní literatura

Goldstein, J. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. edited by D.E. Newbury, J.R. Michael, N.W.M. Ritchie, et al.Fourth edition ed. New York: New York : Springer, 2018. ISBN 978-1-4939-6674-5. (CS)
Reimer, L. Scanning electron microscopy: physics of image formation and microanalysis. Berlin, Heidelberg, New York, Tokyo: Springer-Verlag, 1985. 457 p. ISBN 0387135308. (CS)
Williams, D. B. AND C. B. Carter. Transmission Electron Microscopy [online]. second. [Boston, MA]: Springer US, 2009. Available from World Wide Web:https://doi.org/10.1007/978-0-387-76501-3_1 (CS)