Projekt cílí na propracování metod pro charakterizaci a diagnostiku zkoumaných organických a anorganických materiálů a struktur. Soustředí se na detekci lokálních defektů na povrchu a v objemu, analýzu jejich vzniku, a dále na sledování degradace celého vzorku vlivem stárnutí či vystavením podmínkám umělého stárnutí. Budou popsány fyzikální mechanismy zkoumaných procesů a vytvořeny popisy a modely jak vlastních vzorků, tak i defektů. Koncentrace fyzikálně různorodých metod nabízí neobyčejný pohled s mimořádným aplikačním potenciálem.

FEKT-S-17-4626

čeština

Sedlák Petr, doc. Ing., Ph.D. - hlavní řešitel
Bartlová Milada, doc. RNDr., Ph.D. - spoluřešitel
Gajdoš Adam, Ing. - spoluřešitel
Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc. - spoluřešitel
Jurčík Michal, Ing. - spoluřešitel
Kaspar Pavel, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Koktavý Pavel, prof. Ing., CSc. Ph.D. - spoluřešitel
Kuparowitz Tomáš, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Liedermann Karel, doc. Ing., CSc. - spoluřešitel
Macků Robert, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Papež Nikola, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Podshivalov Aleksandr - spoluřešitel
Pokorný Josef, Ing. - spoluřešitel
Sobola Dinara, doc. Mgr., Ph.D. - spoluřešitel
Spohner Milan, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Škarvada Pavel, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Škvarenina Ľubomír, Ing., Ph.D. - spoluřešitel

Ústav fyziky
- odpovědné pracoviště (31.10.2018 - nezadáno)
Ústav fyziky
- interní (1.1.2017 - 31.12.2019)
Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
- příjemce (1.1.2017 - 31.12.2019)

DALLAEV, R.; PAPEŽ, N.; SOBOLA, D.; RAMAZANOV, S.; SEDLÁK, P. Investigation of structure of AlN thin films using Fourier-transform infrared spectroscopy. In Procedia Structural Integrity. Procedia Structural Integrity. Elsevier, 2020. p. 601-606. ISSN: 2452-3216.
Detail

PAPEŽ, N.; DALLAEV, R.; SOBOLA, D.; MACKŮ, R.; ŠKARVADA, P. Microstructural investigation of defects in photovoltaic cells by the electron beam-induced current method. In Procedia Structural Integrity. Procedia Structural Integrity. Elsevier, 2020. p. 595-600. ISSN: 2452-3216.
Detail

PAPEŽ, N.; GAJDOŠ, A.; DALLAEV, R.; SOBOLA, D.; SEDLÁK, P.; MOTÚZ, R.; NEBOJSA, A.; GRMELA, L. Performance analysis of GaAs based solar cells under gamma irradiation. Applied Surface Science, 2020, no. 510, p. 265-272. ISSN: 0169-4332.
Detail

STACH, S.; TALU, S.; DALLAEV, R.; ARMAN, A.; SOBOLA, D.; SALERNO, M. Evaluation of the Topographical Surface Changes of Silicon Wafers after Annealing and Plasma Cleaning. Silicon, 2020, vol. 11, no. 1, p. 2563-2570. ISSN: 1876-990X.
Detail

PAPEŽ, N. Advanced structural analysis of silicon solar cells. In Proceedings of the 25th Conference STUDENT EEICT 2019. Brno: 2019. p. 723-727. ISBN: 978-80-214-5735-5.
Detail

SOBOLA, D.; PAPEŽ, N.; DALLAEV, R.; RAMAZANOV, S.; HEMZAL, D.; HOLCMAN, V. Characterization of nanoblisters on HOPG surface. In Journal of ELECTRICAL ENGINEERING. Journal of Electrical Engineering. FEI STU Bratislava: De Gruyter OPEN, 2019. p. 132-136. ISSN: 1335-3632.
Detail

KASPAR, P.; SOBOLA, D.; DALLAEV, R.; RAMAZANOV, S.; NEBOJSA, A.; REZAEE, S.; GRMELA, L. Characterization of Fe2O3 thin film on highly oriented pyrolytic graphite by AFM, Ellipsometry and XPS. Applied Surface Science, 2019, vol. 493, no. 1, p. 673-678. ISSN: 0169-4332.
Detail

VANĚK, J.; JANDOVÁ, K.; VANÝSEK, P. SEKUNDÁRNÍ VYUŽITÍ KOMUNÁLNÍHO ODPADU VE ZDROJÍCH SUROVIN A ENERGIE. In ZBORNÍK MEDZINÁRODNEJ VEDECKEJ KONFERENCIE RESpect 2019. 1. 2019. s. 80-86. ISBN: 978-80-553-3308-3.
Detail

DALLAEV, R.; ORLOVA, L.; SOBOLA, D. Imaging of structures at butterfly wings by atomic force microscopy. In PROSPECTS FOR THE DEVELOPMENT OF THE AUTOMIBLE TRANSPORT: INNOVATIONS, PROJECTS, STAFF. 2019. p. 241-245. ISBN: 978-5-00128-244-0.
Detail

DALLAEV, R. Characterization of aln thin films deposited on thermally processed silicon substrates using pe-ald. In Proceedings of the 25 th Conference STUDENT EEICT 2019. doc. Ing. Vítězslav Novák, Ph.D. 2019. p. 704-709. ISBN: 978-80-214-5735-5.
Detail

DALLAEV, R.; STACH, S.; TALU, S.; SOBOLA, D.; MÉNDEZ-ALBORES, A.; TREJO, G.; GRMELA, L. Stereometric Analysis of Effects of Heat Stressing on Micromorphology of Si Single Crystals. Silicon, 2019, vol. 11, no. 1, p. 1-15. ISSN: 1876-990X.
Detail

POKORNÝ, J. Silicon in spectroscopic data of world databases. Plasma Physics and Technology, 2018, vol. 5, no. 3, p. 117-121. ISSN: 2336-2626.
Detail

GAJDOŠ, A.; ŠKARVADA, P.; MACKŮ, R.; PAPEŽ, N.; ŠKVARENINA, Ľ.; SOBOLA, D. Isolation and optoelectronic characterization of Si solar cells microstructure defects. Journal of Physics: Conference Series, 2018, vol. 1124, no. 4, p. 1-6. ISSN: 1742-6596.
Detail

PAPEŽ, N.; HOLCMAN, V. Efektivní zpracování dat z mikroskopie skenující sondou. Jemná mechanika a optika, 2018, č. 63, s. 180-182. ISSN: 0447-6441.
Detail

PAPEŽ, N.; SOBOLA, D.; GAJDOŠ, A.; ŠKVARENINA, Ľ.; MACKŮ, R.; ELIÁŠ, M.; NEBOJSA, A.; MOTÚZ, R. Surface morphology after reactive ion etching of silicon and gallium arsenide based solar cells. Journal of Physics: Conference Series, 2018, vol. 1124, no. 4, p. 165-171. ISSN: 1742-6596.
Detail

PAPEŽ, N.; SOBOLA, D.; ŠKVARENINA, Ľ.; ŠKARVADA, P.; HEMZAL, D.; TOFEL, P.; GRMELA, L. Degradation analysis of GaAs solar cells at thermal stress. Applied Surface Science, 2018, no. 461, p. 212-220. ISSN: 0169-4332.
Detail

ŢĂLU, Ş.; SOBOLA, D.; PAPEŽ, N.; DALLAEV, R.; SEDLÁK, P. Efficient processing of data acquired using microscopy techniques. In DEStech Transactions on Social Science, Education and Human Science. DEStech Transactions on Social Science Education and Human Science. Lancaster, Pennsylvania 17602 U.S.A.: DEStech Publications, Inc., 2018. p. 202-207. ISBN: 978-1-60595-566-7. ISSN: 2475-0042.
Detail

ŞTEFAN ŢĂLU, RASHID DALLAEV, DINARA SOBOLA. Evaluation of Surface Characteristics of Highly Oriented Pyrolitic Graphite. In 2018 2nd International Conference on Advances in Management Science and Engineering (AMSE 2018). 2018. p. 150-154. ISBN: 978-1-60595-566-7.
Detail

MÍVALT, F. EVALUATION OF FLOW-INDUCED VOLTAGE FLUCTUATIONS OF GAS CHEMIRESISTORS BY PARAMETRIC EMPIRICAL MODEL. In Proceedings of the 24th Conference STUDENT EEICT 2018. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních, 2018. s. 267-269. ISBN: 978-80-214-5614-3.
Detail

TALU, S.; YADAV, R.; ŠIK, O.; SOBOLA, D.; DALLAEV, R.; SOLAYMANI, S.; MAN, O. How topographical surface parameters are correlated with CdTe monocrystal surface oxidation. MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, 2018, no. 85, p. 15-23. ISSN: 1369-8001.
Detail

Odpovědnost: Sedlák Petr, doc. Ing., Ph.D.