Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Project detail
Duration: 01.01.2007 — 31.12.2011
Funding resources
The Czech Academy of Sciences - Nanotechnologie pro společnost
- whole funder (2007-01-01 - 2011-12-31)
On the project
Pro splnění dlouho slibovaného přínosu nanotechnologií pro společnost je nutné spojit nanostrukturní komponenty do funkčních celků – nanosystémů. Cílem projektu je tvorba nanostruktur na bázi tenkých vrstev polovodičů (zejména křemíku, diamantu a oxidů kovů), kovů a organických látek (např. organických barviv nebo molekul DNA), jejich spojování do hybridních nanosystémů s kontrolou růstu, orientace a umístění pomocí fyzikálně-chemických parametrů, a následně charakterizace jejich funkčnosti z hlediska cílových aplikací jako nano-sensory, nano-elektronika, opto-elektronika a forenzní prvky. Tento experimentální přístup bude podpořen teoretickým studiem a počítačovým modelováním vlastností nano-rozhraní mezi organickými a anorganickými materiály. Očekáváme, že výsledky projektu přispějí k rychlejšímu nasazení nanotechnologií v praxi i k odhalení nových jevů na úrovni atomů a molekul.
Description in EnglishRealization of the long promised benefits of nanotechnology for society requires assembly of nanostructural components into functional units - nanosystems. The project aims to produce nanostructures based on semiconducting thin films (in particular of silicon, diamond, and metal oxides), metals, and organic materials (e.g. organic dyes or DNA molecules), to merge them into hybrid nanosystems with control over their growth, orientation, and position via physical and chemical parameters, and characterize their functionality with respect to their target applications in nano-sensors, nano-electronics, opto-electronics, and forensic devices. The experimental approach will be supported by theoretical studies and computational modelling of properties of nanointerfaces between organic and inorganic materials. Results of the project are expected to contribute to faster implementation of nanotechnologies into practical use as well as to reveal new phenomena on a scale of atoms and molecules.
Keywordsnanysystémy, fyzika povrchů a rozhraní, makromolekulární fyzika, optoelektronika, polovodiče, organické látky, nanolitografie, optická spektroskopie, biosenzory, nanosenzory
Key words in Englishnanosystems; physics of surfaces and interfaces; macromolecular physics; density functional theory; optoelektronics; semiconductors; organic matter; scanning probe microscopies; nanolithography; optical spectroscopies; biosensors; nanosensors; forensic …
Mark
KAN400100701
Default language
Czech
People responsible
Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc. - principal person responsible
Units
Institute of Physical Engineering- beneficiary (2007-01-01 - 2011-12-31)
Results
KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; MARKIN, S.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. TOF-LEIS spectra of Ga/Si: Peak shape analysis. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2007, vol. 265, no. 2, p. 569-575. ISSN: 0168-583X.Detail
ROUGEMAILLE, N.; UHLÍŘ, V.; FRUCHART, O.; PIZZINI, S.; VOGEL, J.; TOUSSAINT, J. Phase diagram of magnetic domain walls in spin valve nano-stripes. Applied Physics Letters, 2012, vol. 100, no. 17, p. 172404-1 (172404-4 p.)ISSN: 0003-6951.Detail
POTOČEK, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Využití termální desorpční spektroskopie při studiu povrchové kontaminace. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 217-218. ISSN: 0447-6441.Detail
ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Formation of copper islands on a native SiO2 surface at elevated temperatures. Applied Surface Science, 2010, vol. 256, no. 11, p. 3636-3641. ISSN: 0169-4332.Detail
KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Stability of hydrogen-terminated silicon surface under ambient atmosphere. Applied Surface Science, 2010, vol. 256, no. 11, p. 3423-2426. ISSN: 0169-4332.Detail
KOLÍBAL, M.; ČECHAL, T.; KOLÍBALOVÁ, E.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Self-limiting cyclic growth of gallium droplets on Si(111). NANOTECHNOLOGY, 2008, vol. 19, no. 46, p. 475606-1 (475606-5 p.)ISSN: 0957-4484.Detail
UHLÍŘ, V.; PIZZINI, S.; ROUGEMAILLE, N.; NOVOTNÝ, J.; CROS, V.; JIMÉNEZ, E.; FAINI, G.; HEYNE, L.; SIROTTI, F.; TIEG, C.; BENDOUNAN, A.; MACCHEROZZI, F.; BELKHOU, R.; GROLLIER, J.; ANANE, A.; VOGEL, J. Current-induced motion and pinning of domain walls in spin-valve nanowires studied by XMCD-PEEM. PHYSICAL REVIEW B, 2010, vol. 81, no. 22, p. 224418-1 (224418-10 p.)ISSN: 1098-0121.Detail
ČECHAL, J.; LUKSCH, J.; KOŇÁKOVÁ, K.; URBÁNEK, M.; KOLÍBALOVÁ, E.; ŠIKOLA, T. Morphology of cobalt layers on native SiO2 surfaces at elevated temperatures: formation of Co islands. Surface Science, 2008, vol. 602, no. 15, p. 2693-2698. ISSN: 0039-6028.Detail
PIZZINI, S.; UHLÍŘ, V.; VOGEL, J.; ROUGEMAILLE, N.; LARIBI, S.; CROS, V.; JIMÉNEZ, E.; CAMARERO, J.; TIEG, C.; BONET, E.; BONFIM, M.; MATTANA, R.; DERANLOT, C.; PETROFF, F.; ULYSSE, C.; FAINI, G.; FERT, A. High Domain Wall Velocity at Zero Magnetic Field Induced by Low Current Densities in Spin Valve Nanostripes. Applied Physics Express, 2009, vol. 2, no. 2, p. 023003-1 (023003-3 p.)ISSN: 1882-0778.Detail
POLČÁK, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; URBÁNEK, M.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T. Angle-resolved XPS depth profiling of modeled structures: testing and improvement of the method. Surface and Interface Analysis, 2010, vol. 42, no. 5-6, p. 649-652. ISSN: 0142-2421.Detail
ŠIKOLA, T.; KEKATPURE, R.; BARNARD, E.; WHITE, J.; VAN DORPE, P.; BŘÍNEK, L.; TOMANEC, O.; ZLÁMAL, J.; LEI, D.; SONNEFRAUD, Y.; MAIER, S.; HUMLÍČEK, J.; BRONGERSMA, M. Mid-IR plasmonic antennas on silicon-rich oxinitride absorbing substrates: Nonlinear scaling of resonance wavelengths with antenna length. Applied Physics Letters, 2009, vol. 95, no. 25, p. 253109-1 (253109-3 p.)ISSN: 0003-6951.Detail
POLČÁK, J.; BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Manipulátor vzorku pro rentgenovou fotoelekronovou spektroskopii do velmi vysokého vakua. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 215-216. ISSN: 0447-6441.Detail
PLŠEK, R.; UHLÍŘ, V.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Měření magnetických vlastností tenkých vrstev pomocí magnetooptického Kerrova jevu. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 184-186. ISSN: 0447-6441.Detail
TOMANEC, O.; HRNČÍŘ, T.; LOVICAR, L.; ŠUSTR, L.; BŘÍNEK, L.; KALOUSEK, R.; CHMELÍK, R.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Studium vlastností mikro- a nanostruktur v oblasti plazmoniky na Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 187-189. ISSN: 0447-6441.Detail
BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NEUMAN, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Mechanika iontů jako prostředek k analýze nanosvěta. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 209-214. ISSN: 0447-6441.Detail
BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Role of humidity in local anodic oxidation: A study of water condensation and electric field distribution. PHYSICAL REVIEW B, 2009, vol. 79, no. 19, p. 195406-195412. ISSN: 1098-0121.Detail
ČECHAL, J.; TOMANEC, O.; ŠKODA, D.; KOŇÁKOVÁ, K.; HRNČÍŘ, T.; MACH, J.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Selective growth of Co islands on ion beam induced nucleation centers in a native SiO2 film. Journal of Aplied Physics, 2009, vol. 105, no. 8, p. 084314-1 (084314-6 p.)ISSN: 0021-8979.Detail
ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; TOMANEC, O.; ŠIKOLA, T. Řízený růst kobaltových ostrůvků na křemíkovém substrátu. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 222-224. ISSN: 0447-6441.Detail
ŠKODA, D.; KALOUSEK, R.; TOMANEC, O.; BARTOŠÍK, M.; BŘÍNEK, L.; ŠUSTR, L.; ŠIKOLA, T. Studium optických vlastností nanostruktur pomocí mikroskopie blízkého pole. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 219-222. ISSN: 0447-6441.Detail
SPOUSTA, J.; ZLÁMAL, J.; URBÁNEK, M.; BĚHOUNEK, T.; PLŠEK, R.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Citlivostní analýza vyhodnocování optických parametrů tenkých vrstev (aneb jaké jsou naše šance získat věrohodný výsledek fitováním spekter odrazivosti). Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 225-228. ISSN: 0447-6441.Detail
BARTOŠÍK, M.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Selective growth of metallic nanostructures on surfaces patterned by AFM local anodic oxidation. JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, 2009, vol. 9, no. 10, p. 5887-5890. ISSN: 1533-4880.Detail
ČECHAL, J.; MATLOCHA, T.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Characterization of oxidized gallium droplets on silicon surface: an ellipsoidal droplet shape model for angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy analysis. Thin Solid Films, 2009, vol. 517, no. 6, p. 1928-1934. ISSN: 0040-6090.Detail
MATLOCHA, T.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. A study of a LEIS azimuthal scan behavior: Classical dynamics simulation. Surface Science, 2010, vol. 604, no. 21-22, p. 1906-1911. ISSN: 0039-6028.Detail
UHLÍŘ, V.; PIZZINI, S.; ROUGEMAILLE, N.; CROS, V.; JIMÉNEZ, E.; RANNO, L.; FRUCHART, O.; URBÁNEK, M.; GAUDIN, G.; CAMARERO, J.; TIEG, C.; SIROTTI, F.; WAGNER, E.; VOGEL, J. Direct observation of Oersted-field-induced magnetization dynamics in magnetic nanostripes. PHYSICAL REVIEW B, 2011, vol. 83, no. 2, p. 020406-1 (020406-4 p.)ISSN: 1098-0121.Detail
KOLÍBAL, M.; MATLOCHA, T.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Low energy focused ion beam milling of silicon and germanium nanostructures. NANOTECHNOLOGY, 2011, vol. 22, no. 10, p. 105304-1 (105304-8 p.)ISSN: 0957-4484.Detail
BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Depth resolution enhancement by combined DSIMS and TOF-LEIS profiling. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2011, vol. 269, no. 3, p. 369-373. ISSN: 0168-583X.Detail
MACH, J.; ČECHAL, J.; KOLÍBAL, M.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T. Atomic hydrogen induced gallium nanocluster formation on the Si(100) surface. Surface Science, 2008, vol. 602, no. 10, p. 1898-1902. ISSN: 0039-6028.Detail
KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; NOVÁK, L.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. In-situ observation of <110> oriented Ge nanowire growth and associated collector droplet behavior. Applied Physics Letters, 2011, vol. 99, no. 14, p. 143113-1 (143113-3 p.)ISSN: 0003-6951.Detail
MACH, J.; ŠAMOŘIL, T.; VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. An ultra-low energy (30–200 eV) ion-atomic beam source for ion-beam-assisted deposition in ultrahigh vacuum. Review of Scientific Instruments, 2011, vol. 82, no. 8, p. 083302-1 (083302-7 p.)ISSN: 0034-6748.Detail
UHLÍŘ, V.; VOGEL, J.; ROUGEMAILLE, N.; FRUCHART, O.; ISHAQUE, Z.; CROS, V.; CAMARERO, J.; CEZAR, J.; SIROTTI, F.; PIZZINI, S. Current-induced domain wall motion and magnetization dynamics in CoFeB/Cu/Co nanostripes. Journal of Physics: Condensed Matter, 2011, vol. 24, no. 2, p. 024213-1 (024213-9 p.)ISSN: 0953-8984.Detail
KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NOVÁK, L.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Controlled faceting in (110) germanium nanowire growth by switching between vapor-liquid-solid and vapor-solid-solid growth. Applied Physics Letters, 2012, vol. 100, no. 20, p. 203102-1 (203102-4 p.)ISSN: 0003-6951.Detail
SPOUSTA, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T.; CHMELÍK, R.: Plošný spektrofotometr; Zobrazovací in situ reflektometr. A2/518. (funkční vzorek)Detail