Projekt je zaměřen na výzkum nových metod v diagnostice dielektrických, polovodičových a optoelektronických materiálů a součástek. Tyto metody budou využity k tvorbě fyzikálních modelů poruch a k jejich analýze a lokalizaci. Vlastní výzkum budeme provádět pomocí metod založených na šumové a dielektrické spektroskopii, transportu nosičů, topografii polovodičových povrchů, jejich lokální spektroskopii a fluorescenci, modelování a matematickém zpracování experimentálně získaných elektrických signálů.

FEKT-S-11-11

čeština

Liedermann Karel, doc. Ing., CSc. - hlavní řešitel
Bartlová Milada, doc. RNDr., Ph.D. - spoluřešitel
Bogatyreva Naděžda, Mgr., Ph.D. - spoluřešitel
Cséfalvay Gabriel, Ing. - spoluřešitel
Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc. - spoluřešitel
Chvátal Miloš, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Klampár Marián, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Knápek Alexandr, doc. Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Koktavý Pavel, prof. Ing., CSc. Ph.D. - spoluřešitel
Kopecký Martin, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Macků Robert, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Pavelka Jan, doc. Mgr., CSc. Ph.D. - spoluřešitel
Sedlák Petr, doc. Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Sedláková Vlasta, doc. Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Šik Ondřej, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Škarvada Pavel, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Tománek Pavel, prof. RNDr., CSc. - spoluřešitel
Trčka Tomáš, Ing., Ph.D. - spoluřešitel

Ústav fyziky
- odpovědné pracoviště (1.1.1989 - nezadáno)
Ústav fyziky
- interní (1.1.2012 - 31.12.2014)
Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
- příjemce (1.1.2012 - 31.12.2014)

ABUETWIRAT, I.; LIEDERMANN, K. Dielectric Properties of Thin Tantalum Oxide Layers at Solid Tantalum Capacitors. Bangkok, Thailand: Atlantis Press, 2015. p. 889-891.
Detail

ŠKARVADA, P.; TOMÁNEK, P.; KOKTAVÝ, P.; MACKŮ, R.; ŠICNER, J.; VONDRA, M.; DALLAEVA, D.; SMITH, S.; GRMELA, L. A variety of microstructural defects in crystalline silicon solar cells. Applied Surface Science, 2014, vol. 312, no. 312, p. 50-56. ISSN: 0169-4332.
Detail

HOLCMAN, V.; JURČÍK, M.; KUPAROWITZ, M.; KUPAROWITZ, T.; PROKOPYEVA, E.; SITA, Z.; ŠKARVADA, P.: Absorb01; Funkční vzorek měření absorpce světla. UFYZ FEKT v Brně. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. (funkční vzorek)
Detail

HOLCMAN, V.; BOGATYREVA, N.; DALLAEVA, D.; KASPAR, P.; KAŠPAREC, M.; MACKŮ, R.; ŠKARVADA, P.; TRČKA, T.; PROKOPYEVA, E.: Kap01; Software měření kapacitních charakteristik solárních článků. UFYZ.FEKT VUT v Brně. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/. (software)
Detail

HOLCMAN, V.; MAJZNER, J.; KAŠPAREC, M.; ŠKARVADA, P.; KASPAR, P.; KUPAROWITZ, M.; SPOHNER, M.; TOFEL, P.: LED01; Software měření charakteristik LED diod. UFYZ FEKT VUT v Brně. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. (software)
Detail

VONDRA, M.; SADOVSKÝ, P.; ŠKARVADA, P.; PALAI-DANY, T.: XY software; Software pro měření LED a OLED panelů. UFYZ. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/2013/software-pro-mereni-LED-a-OLED-panelu. (software)
Detail

VONDRA, M.; ŠKARVADA, P.; SADOVSKÝ, P.; PALAI-DANY, T.: LED software; Software pro ovládání řídící jednotky LED / OLED. ICONTIO. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/2013/software-pro-ovladani-ridici-jednotky-LED-OLED. (software)
Detail

VONDRA, M.; SADOVSKÝ, P.; PALAI-DANY, T.; ŠKARVADA, P.; MACKŮ, R.: LED panel; LED modul plošného osvětlení. ICONTIO. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/2013/LED-modul-plosneho-osvetleni. (funkční vzorek)
Detail

PAVELKA, J.; ŠIKULA, J.; TACANO, M.; TANUMA, N. Activation energy of traps in GaN HFETs. In Proceedings of 22nd International Conference on Noise and Fluctuations ICNF 2013, IEEE Catalog Number: CFP1392N-POD. Montpellier: IEEE, 2013. p. 114-117. ISBN: 978-1-4799-0668-0.
Detail

VONDRA, M.; SEDLÁK, P.; ŠIKULA, J.; SEDLÁKOVÁ, V.; MAJZNER, J.; SMULKO, J.; HASSE, L. A FPGA-Based Measurement System with QCM. In A FPGA-Based Measurement System with QCM. Žilina: EDIS - Publishing Institution of the University of Zilina, 2013. p. 13-15. ISBN: 978-80-554-0807-1.
Detail

ŠIK, O.; GRMELA, L. Photoconductivity of CdTe Semiconductor Radiation Detectors. International Journal of Computer Science and Electronics Engineering, 2013, vol. 1, no. 5, p. 31-34. ISSN: 2320-401X.
Detail

PAVELKA, J.; ŠIKULA, J.; TACANO, M.; CHVÁTAL, M.; DALLAEVA, D.; GRMELA, L. Noise sources in interface between mono-crystalline and amorphous semiconductors. In Proceedings of 8th solid state surfaces and interfaces. Bratislava: Comenius University, 2013. p. 128-129. ISBN: 978-80-223-3501-0.
Detail

ŠIK, O.; TRČKA, T.; GRMELA, L.; VONDRA, M. Effect of High Operating Temperature on Electrcal Quantities of CdTe Radiation Detectors. International Journal of Advancements in Electronics and Electrical Engineering, 2013, roč. 3, č. 1, s. 60-63. ISSN: 2319-7498.
Detail

ŠICNER, J.; MACKŮ, R.; KOKTAVÝ, P.; HOLCMAN, V. Noise and Local Diagnostics of Laser Notches on Silicon Solar Cells. In 2013 22nd International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), IEEE Catalog Number CFP1392N-USB. Montpellier: 2013. p. 1-4. ISBN: 978-1-4799-0670-3.
Detail

ABUETWIRAT, I.; PALAI-DANY, T. Dielectric Properties of Niobium Oxide Film and Tantalum Oxide Film at Electrolytic Niobium And Tantalum Capacitors. In 9th ELEKTRO 2012 international conference. 1. Žilina, Slovak Republic: FEKT VUT Brno, 2012. p. 484-488. ISBN: 978-1-4673-1178-6.
Detail

ABUETWIRAT, I.; CHVÁTAL, M. TEMPERATURE AND FREQUENCY DEPENDENCE OF COMPLEX PERMITTIVITY FOR NIOBIUM OXIDE FILM AT COMMERCIAL ELECTROLYTIC CAPACITOR. In Proceedings of the conference VSACKÝ CÁB 2012. 1. VSACKÝ CÁB: FEKT VUT Brno, 2012. p. 4-7. ISBN: 978-80-214-4579-6.
Detail

GRMELA, L.; ŠIK, O. Metal-Semiconductor Junction Role in CdTe Detectors. Acta Electrotechnica et Informatica, 2013, vol. 13, no. 1, p. 22-25. ISSN: 1335-8243.
Detail

PROKOPYEVA, E.; TOMÁNEK, P.; KOCOVÁ, L.; PALAI-DANY, T.; BALÍK, Z.; ŠKARVADA, P.; GRMELA, L. Comparison of optical and electrical investigations of meat ageing. Proceedings of SPIE, 2013, vol. 8774, no. 8774, p. 84471L1 (84471L8 p.)ISSN: 0277-786X.
Detail

DALLAEVA, D.; KOROSTYLEV, E.; BILALOV, B.; TOMÁNEK, P. Scanning proximal microscopy study of the thin layers of silicon carbide aluminum nitride solid solution manufactured by fast sublimation epitaxy. EPJ Web of Conferences, 2013, vol. 48, no. 1, p. 1-4. ISSN: 2100-014X.
Detail

PROKOPYEVA, E. Electrical properties of meat. In Proceedings of the 19th Conference STUDENT EEICT 2013. Volume 3. Brno: LITERA, 2013. p. 159-163. ISBN: 978-80-214-4695-3.
Detail

Odpovědnost: Liedermann Karel, doc. Ing., CSc.