Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Mgr.
Ph.D.
CEITEC VUT, RG-1-05 – vedoucí
petr.klapetek@ceitec.vutbr.cz
Odeslat VUT zprávu
2024
KLAPETEK, P.; NEČAS, D.; HEAPS, E.; SAUVET, B.; KLAPETEK, V.; VALTR, M.; KORPELAINEN, V.; YACOOT, A. Stitching accuracy in large area scanning probe microscopy. Measurement Science and Technology, 2024, roč. 35, č. 12, s. 125026-125037. ISSN: 1361-6501.Detail | WWW
2023
VALTR, M.; KLAPETEK, P.; MARTINEK, J.; NOVOTNY, O.; JELINEK, Z.; HORTVÍK, V.; NEČAS, D. Scanning Probe Microscopy controller with advanced sampling support. HardwareX, 2023, roč. 15, č. e00451, ISSN: 2468-0672.Detail | WWW
NEČAS, D.; YACOOT, A.; VALTR, M.; KLAPETEK, P. Demystifying data evaluation in the measurement of periodic structures. Measurement Science and Technology, 2023, roč. 34, č. 5, s. 1-21. ISSN: 1361-6501.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
ŠULC, V.; VOHÁNKA, J.; OHLÍDAL, I.; KLAPETEK, P.; OHLÍDAL, M.; KAUR, N.; VIŽĎA, F. Multi-Wavelength Angle-Resolved Scattering of Randomly Rough Surfaces Based on the Scalar Diffraction Theory. Coatings, MDPI, 2023, roč. 13, č. 11, ISSN: 2079-6412.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
VOHÁNKA, J.; ŠULC, V.; OHLÍDAL, I.; OHLÍDAL, M.; KLAPETEK, P. Optical method for determining the power spectral density function of randomly rough surfaces by simultaneous processing of spectroscopic reflectometry, variable-angle spectroscopic ellipsometry and angle-resolved scattering data. Optik, 2023, roč. 280, č. 170775, ISSN: 1618-1336.Detail | WWW
2022
FAHRBACH, M.; JIUSHAI, X.; KLAPETEK, P.; MARTINEK, J.; PEINER, E. Contact Resonance Imaging with Vertical Nanowire Arrays. In Sensoren und Messsysteme - 21. ITG/GMA Fachtagung. 1. Nuremberg: AMA Service GmbH, 2022. s. 245-250. ISBN: 9783800758364.Detail
Puttock, R.; Barton, C.; Saugar, E.; Klapetek, P.; Fernández-Scarioni, A.; Freitas, P.; Schumacher, H.; Ostler, T.; Chubykalo-Fesenko, O.; Kazakova, O. Local thermoelectric response from a single Neél domain wall. Science Advances, 2022, roč. 8, č. 47, s. eadc9798 ( s.)ISSN: 2375-2548.Detail | WWW
BURŠÍK, J.; CHARVÁTOVÁ CAMPBELL, A.; HAVLÍČEK, M.; KLAPETEK, P.; KELAROVÁ, Š.; PŘIBYL, R.; VÁCLAVÍK, R.; STUPAVSKA, M.; BURŠIKOVÁ, V. Surface morphology of nanostructured plasma-polymer thin films deposited under dusty plasma conditions. In Journal of Physics: Conference Series. Journal of Physics: Conference Series. 2022. s. 1-4. ISSN: 1742-6588.Detail
KLENOVSKÝ, P.; VALDHANS, J.; KREJČÍ, L.; VALTR, M.; KLAPETEK, P.; FEDOTOVA, O. Interplay between multipole expansion of exchange interaction and Coulomb correlation of exciton in colloidal II-VI quantum dots. Electronic Structure, 2022, roč. 4, č. 1, ISSN: 2516-1075.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
Kaeseberg, T.; Grundmann, J.; Siefke, T.; Klapetek, P.; Valtr, M.; Kroker, S.; Bodermann, B. Mueller Matrix Ellipsometric Approach on the Imaging of Sub-Wavelength Nanostructures. Frontiers in Physics, 2022, roč. 9, č. 814559, ISSN: 2296-424X.Detail | WWW
OHLÍDAL, I.; VOHANKA, J.; BURŠÍKOVÁ, V.; DVOŘÁK, J.; KLAPETEK, P.; KAUR, N. Optical characterization of inhomogeneous thin films with randomly rough boundaries exhibiting wide intervals of spatial frequencies. OPTICS EXPRESS, 2022, roč. 30, č. 21, s. 39068-39085. ISSN: 1094-4087.Detail | WWW
Marchi, D; Cara, E; Lupi, F. F.; Hoenicke, P.; Kayser, Y; Beckhoff, B; Castellino, M; Klapetek, P.; Zoccante, A; Laus, M; Cossi, M. Structure and stability of 7-mercapto-4-methylcoumarin self-assembled monolayers on gold: an experimental and computational analysis. Physical Chemistry Chemical Physics, 2022, roč. 24, č. 36, s. 22083-22090. ISSN: 1463-9084.Detail | WWW
VOHÁNKA, J.; OHLÍDAL, I.; BURŠÍKOVÁ, V.; KLAPETEK, P.; KAUR, N. Optical characterization of inhomogeneous thin films with randomly rough boundaries. OPTICS EXPRESS, 2022, roč. 30, č. 2, s. 2033-2047. ISSN: 1094-4087.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
2021
ŠUSTEK, Š.; VOHÁNKA, J.; OHLÍDAL, I.; OHLÍDAL, M.; ŠULC, V.; KLAPETEK, P.; KAUR, N. Characterization of randomly rough surfaces using angle-resolved scattering of light and atomic force microscopy. Journal of Optics, 2021, roč. 23, č. 10, s. 105602-105602. ISSN: 2040-8986.Detail | WWW
KLAPETEK, P.; GROLICH, P.; NEZVAL, D.; VALTR, M.; ŠLESINGER, R.; NEČAS, D. GSvit - An open source FDTD solver for realistic nanoscale optics simulations. COMPUTER PHYSICS COMMUNICATIONS, 2021, roč. 265, č. 1, s. 1-11. ISSN: 1879-2944.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
Guen, E.; Chapuis, PO.; Kaur, NJ.; Klapetek, P.; Gomes, S. Impact of roughness on heat conduction involving nanocontacts. Applied Physics Letters, 2021, roč. 119, č. 16, s. 161602-1 (161602-5 s.)ISSN: 1077-3118.Detail | WWW
NEČAS, D.; KLAPETEK, P. Synthetic Data in Quantitative Scanning Probe Microscopy. Nanomaterials, 2021, roč. 11, č. 7, s. 1-26. ISSN: 2079-4991.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
2020
HEAPS, E; YACOOT, A.; DONGMO, H.; PICCO, l.; PAYTON, O.D.; RUSSEL-PAVIER, F.; KLAPETEK, P. Bringing real-time traceability to high-speed atomic force microscopy. Measurement Science and Technology, 2020, roč. 31, č. 7, s. 1-11. ISSN: 1361-6501.Detail | WWW
KLAPETEK, P.; YACOOT, A.; HORTVÍK, V.; DUCHOŇ, V.; DONGMO, H.; ŘEŘUCHA, Š.; VALTR, M.; NEČAS, D. Multiple-fibre interferometry setup for probe sample interaction measurements in atomic force microscopy. Measurement Science and Technology, 2020, roč. 31, č. 9, s. 1-11. ISSN: 0957-0233.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
Garnaes, J.; Necas, D.; Nielsen, L.; Madsen, MH.; Torras-Rosell, A.; Zeng, G.; Klapetek, P.; Yacoot, A. Algorithms for using silicon steps for scanning probe microscope evaluation. METROLOGIA, 2020, roč. 57, č. 6, s. 064002-1 (064002-14 s.)ISSN: 0026-1394.Detail | WWW
GUEN, E.; KLAPETEK, P.; PUTTOCK, R.; HAY, B.; ALLARD, A.; MAXWELL, T.; CHAPUIS, P.O.; RENAHY, D.; DAVEE, G.; VALTR, M.; MARTINEK, J.; KAZAKOVA, O.; GOMES, S. SThM-based local thermomechanical analysis: Measurement intercomparison and uncertainty analysis. INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMAL SCIENCES, 2020, roč. 156, č. 106502, s. 1-9. ISSN: 1290-0729.Detail | WWW
ZEMEK, M.; BLAŽEK, P.; ŠRÁMEK, J.; ŠALPLACHTA, J.; ZIKMUND, T.; KLAPETEK, P.; TAKEDA, Y.; OMOTE, K.; KAISER, J. Voxel Size Calibration for High-resolution CT. The e-Journal of Nondestructive Testing. Wels: NDT.net, 2020. s. 1-8. ISBN: 1435-4934.Detail | WWW
NEČAS, D.; VALTR, M.; KLAPETEK, P. How levelling and scan line corrections ruin roughness measurement and how to prevent it. Scientific Reports, 2020, roč. 10, č. 1, s. 1-15. ISSN: 2045-2322.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
HU, X.; PUTTOCK, R.; KAZAKOVA, O.; ULVR, M.; KLAPETEK, P.; NEČAS, D.; NEU, V. Round robin comparison on quantitative nanometer scale magnetic field measurements by magnetic force microscopy. JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC MATERIALS, 2020, roč. 511, č. 1, s. 166947-1 (166947-11 s.)ISSN: 1873-4766.Detail | WWW
NEČAS, D.; KLAPETEK, P.; VALTR, M. Estimation of roughness measurement bias originating from background subtraction. Measurement Science and Technology, 2020, roč. 31, č. 9, s. 094010-1 (094010-15 s.)ISSN: 0957-0233.Detail | WWW
Marek Zemek, Pavel Blažek, Jan Šrámek, Jakub Šalplachta, Tomáš Zikmund, Petr Klapetek, Yoshihiro Takeda, Kazuhiko Omote, Jozef Kaiser. Voxel Size Calibration for High-resolution CT. Wels: 2020.Detail
2019
BLAŽEK, P.; ŠRÁMEK, J.; ZIKMUND, T.; KALASOVÁ, D.; HORTVÍK, V.; KLAPETEK, P.; KAISER, J. Voxel size and calibration for CT measurements with a small field of view. The e-Journal of Nondestructive Testing, 2019, č. 2019, s. 1-7. ISSN: 1435-4934.Detail
ČECHALOVÁ, B.; BRÁNECKÝ, M.; KLAPETEK, P.; ČECH, V. Optical Properties of Oxidized Plasma-Polymerized Organosilicones and Their Correlation with Mechanical and Chemical Parameters. Materials, 2019, roč. 12, č. 3, s. 1-12. ISSN: 1996-1944.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
MARTINEK, J.; VALTR, M.; GROLICH, P.; HORTVÍK, V.; DANICK, B.; SHAKER, M.; KLAPETEK, P. Large area scanning thermal microscopy and infrared imaging system. Measurement Science and Technology, 2019, č. 30, s. 1-12. ISSN: 1361-6501.Detail | WWW
NEČAS, D.; KLAPETEK, P.; NEU, V.; HAVLÍČEK, M.; PUTTOCK, R.; KAZAKOVA, O.; HU, X.; ZAJÍČKOVÁ, L. Determination of tip transfer function for quantitative MFM using frequency domain filtering and least squares method. Scientific Reports, 2019, č. 9, s. 1-15. ISSN: 2045-2322.Detail | WWW
MARTINEK, J.; CHARVÁTOVÁ CAMPBELL, A.; BURŠÍKOVÁ, V.; KLAPETEK, P. Modeling the influence of roughness on nanoindentation data using finite element analysis. INTERNATIONAL JOURNAL OF MECHANICAL SCIENCES, 2019, roč. 161-162, č. 105015, s. 1-17. ISSN: 0020-7403.Detail | WWW
YACOOT, A.; KLAPETEK, P.; VALTR, M.; GROLICH, P.; DONGMO, H.; LAZZERINI, M.; BRIDGES, A. Design and performance of a test rig for evaluation of nanopositioning stages. Measurement Science and Technology, 2019, roč. 30, č. 3, s. 1-10. ISSN: 1361-6501.Detail | WWW
KLAPETEK, P.; CHARVÁTOVÁ CAMPBELL, A.; BURŠÍKOVÁ, V. Fast mechanical model for probe-sample elastic deformation estimation in scanning probe microscopy. Ultramicroscopy, 2019, roč. 201, č. 1, s. 18-18. ISSN: 0304-3991.Detail | WWW
2018
Guen, E.; Chapuis, PO.; Klapetek, P.; Puttock, R.; Hay, B.; Allard, A.; Maxwell, T.; Renahy, D.; Valtr, M.; Martinek, J.; Gomes, S. Local Thermophysical Properties Measurements on Polymers using Doped Silicon SThM Probe: Uncertainty Analysis and Interlaboratory Comparison. In 2018 24TH INTERNATIONAL WORKSHOP ON THERMAL INVESTIGATIONS OF ICS AND SYSTEMS (THERMINIC). 2018. s. 1-6. ISBN: 978-1-5386-6759-0.Detail
2017
KLAPETEK, P.; YACOOT, A.; GROLICH, P.; VALTR, M.; NEČAS, D. Gwyscan: a library to support non-equidistant scanning probe microscope measurements. Measurement Science and Technology, 2017, roč. 28, č. 3, s. 1-11. ISSN: 0957-0233.Detail
KLAPETEK, P.; MARTINEK, J.; GROLICH, P.; VALTR, M.; KAUR, N. Graphics cards based topography artefacts simulations in Scanning Thermal Microscopy. International journal of heat and mass transfer, 2017, roč. 108, č. 1, s. 841-850. ISSN: 0017-9310.Detail
CHARVÁTOVÁ CAMPBELL, A.; JELÍNEK, P.; KLAPETEK, P. Study of uncertainties of height measurements of monoatomic steps on Si 5 x 5 using DFT. Measurement Science and Technology, 2017, roč. 28, č. 3, s. 1-6. ISSN: 1361-6501.Detail | WWW
NEČAS, D.; KLAPETEK, P. Study of user influence in routine SPM data processing. Measurement Science and Technology, 2017, roč. 28, č. 3, s. 1-11. ISSN: 1361-6501.Detail | WWW
FARKA, D.; COSKUN ALJABOUR, H.; BAUER, P.; ROTH, D.; BRUCKNER, B.; KLAPETEK, P.; SARICIFTCI, N.; STADLER, P. Increase in electron scattering length in PEDOT:PSS by a triflic acid post-processing. Monatshefte für Chemie, 2017, roč. 148, č. 5, s. 871-877. ISSN: 1434-4475.Detail | WWW
KLENOVSKÝ, P.; ZŮDA, J.; KLAPETEK, P.; HUMLÍČEK, J. Ellipsometry of surface layers on a 1-kg sphere from natural silicon. Applied Surface Science, 2017, roč. 421, č. 1, s. 542-546. ISSN: 0169-4332.Detail
2015
KLAPETEK, P.; VALTR, M.; MARTINEK, J. Large area high-speed metrology SPM system Large area high-speed metrology SPM system Large area high-speed metrology SPM system. NANOTECHNOLOGY, 2015, roč. 26, č. 6, s. 1-10. ISSN: 0957-4484.Detail
MARTINEK, J.; KLAPETEK, P.; CHARVÁTOVÁ CAMPBELL, A. Methods for topography artifacts compensation in scanning thermal microscopy. Ultramicroscopy, 2015, roč. 155, č. 1, s. 55-61. ISSN: 0304-3991.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
MARTINEK, J.; KLAPETEK, P.; HORÁKOVÁ, M.; MIRANDA, A. Numerical correction of topography artifacts in scanning thermal microscopy. In CONFERENCE PROCEEDINGS NANOCON 2015. 2015. s. 1-6. ISBN: 978-80-87294-63- 5.Detail
MARTINEK, J.; KLAPETEK, P. Modeling C-AFM measurement using FEM. In Nanocon 2015. 2015. s. 1-6. ISBN: 978-80-87294-55-0.Detail
2014
MARTINEK, J.; KLAPETEK, P.; CIMRMAN, R.; VALTR, M. Thermal conductivity analysis of delaminated thin films by scanning thermal microscopy. Measurement Science and Technology, 2014, roč. 25, č. 4, s. 1-12. ISSN: 0957-0233.Detail
NEČAS, D.; ČUDEK, V.; VODÁK, J.; OHLÍDAL, M.; KLAPETEK, P.; ZAJÍČKOVÁ, L. Mapping of properties of thin plasma jet films using imaging spectroscopic reflectometry. Measurement Science and Technology, 2014, roč. 25, č. 11, s. 1-9. ISSN: 0957-0233.Detail
LAZAR, J.; KLAPETEK, P.; VALTR, M.; HRABINA, J.; BUCHTA, Z.; ČÍP, O.; ČÍŽEK, M.; OULEHLA, J.; ŠERÝ, M. Short-Range Six-Axis Interferometer Controlled Positioning for Scanning Probe Microscopy. SENSORS, 2014, roč. 14, č. 1, s. 877-886. ISSN: 1424-8220.Detail | WWW
MARTINEK, J.; ŠLESINGER, R.; KLAPETEK, P. Modeling C- AFM measurement using FEM. In Nanocon 2014. 2014. s. 1-6. ISBN: 978-80-87294-55- 0.Detail
KLAPETEK, P.; NEČAS, D. Independent analysis of mechanical data from atomic force microscopy. Measurement Science and Technology, 2014, roč. 25, č. 4, s. 1-8. ISSN: 0957-0233.Detail
2013
NEČAS, D.; KLAPETEK, P. One-dimensional autocorrelation and power spectrum density functions of irregularregions. Ultramicroscopy, 2013, roč. 124, č. 1, s. 13-19. ISSN: 0304-3991.Detail
2012
NEČAS, D.; KLAPETEK, P. Gwyddion: an open-source software for SPM data analysis. CENTRAL EUROPEAN JOURNAL OF PHYSICS, 2012, roč. 10, č. 1, s. 181-188. ISSN: 1644-3608.Detail
2011
KLAPETEK, P.; VALTR, M.; NEČAS, D.; SALYK, O.; DZIK, P. Atomic force microscopy analysis of nanoparticles in non-ideal conditions. Nanoscale Research Letters, 2011, roč. 6, č. 1, s. 1-9. ISSN: 1931-7573.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
2010
KLAPETEK, P.; VALTR, M.; PORUBA, A.; NEČAS, D.; OHLÍDAL, M. Rough surface scattering simulations using graphics cards. Applied Surface Science, 2010, roč. 2010, č. 256, s. 5640-5643. ISSN: 0169- 4332.Detail
2009
MAN, J.; KLAPETEK, P.; MAN, O.; WEIDNER, A.; OBRTLÍK, K.; POLÁK, J. Extrusions and intrusions in fatigued metals: Part 2. AFM and EBSD study of the early growth of extrusions and intrusions in 316L steel fatigued at room temperature. PHILOSOPHICAL MAGAZINE, 2009, roč. 89, č. 16, s. 1337-1372. ISSN: 1478- 6435.Detail
OHLÍDAL, M.; OHLÍDAL, I.; KLAPETEK, P.; NEČAS, D. PRECISE MEASUREMENT OF THICKNESS DISTRIBUTION OF NON- UNIFORM THIN FILMS BY IMAGING SPECTROSCOPIC REFLECTOMETRY. In Proceedings of IMEKO 2009. Lisabon: IMEKO, 2009. s. 100-105. ISBN: 978-963-88410-0- 1.Detail
2007
KLAPETEK, P.; BURŠÍK, J.; MARTINEK, J. Near- field scanning optical microscope probe analysis. Ultramicroscopy, 2007, roč. 2007, č. 1, s. 1 (1 s.). ISSN: 0304- 3991.Detail
2006
Richard Ficek, Radimír Vrba, Zuzana Kučerová, Lenka Zajíčková, Marek Eliáš, František Matějka, Jiřina Matějková, Ondřej Jašek, Petr Klapetek. Carbon nanotubes synthesized by plasma enhanced CVD: Preparation for measurements of their electrical properties. Czechoslovak Journal of Physics, 2006, č. 53, s. 1 ( s.)ISSN: 0011- 4626.Detail
2005
OHLÍDAL, I., FRANTA, D., ČUDEK, V., BURŠÍKOVÁ, V., KLAPETEK, P., JÁKL, M. Optical measurement of mechanical stresses in diamond-like carbon films. In PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE). Proceedings of SPIE. Bellingham, Washington: Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE), 2005. s. 717-728. ISBN: 0-8194-5757-4. ISSN: 0277-786X.Detail
2004
FRANTA, D., OHLÍDAL, I., KLAPETEK, P.,OHLÍDAL, M. Characterization of thin oxide films on GaAs substrates by optical methods and atomic force microscopy. Surface and Interface Analysis, 2004, roč. 36, č. 8, s. 1203-1206. ISSN: 0142- 2421.Detail
2003
OHLÍDAL, M., OHLÍDAL, I., KLAPETEK, P., JÁKL, M., ČUDEK, V., ELIÁŠ, M. New Method for the Complete Optical Analysis of Thin Films Nonuniform in Optical Parameters. Japanese Journal of Applied Physics, 2003, roč. 2003, č. 7B, s. 4760 ( s.)ISSN: 0021- 4922.Detail
1998
OHLÍDAL, I., FRANTA, D., OHLÍDAL, M., VIČAR, M., KLAPETEK, P. Comparison of AFM and optical methods at measuring nanometric surface roughness. In PTB - Bericht F- 34. Braunschweig, Germany: Physikalisch- Technische Bunesanstalt Ferrtiungsmestechnik, 1998. s. 123 ( s.)ISBN: 3-89701-280- 4.Detail
*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.