Mgr.

Petr Klapetek

Ph.D.

CEITEC VUT, RG-1-05 – vedoucí

petr.klapetek@ceitec.vutbr.cz

Odeslat VUT zprávu

Mgr. Petr Klapetek, Ph.D.

Publikace

  • 2024

    KLAPETEK, P.; NEČAS, D.; HEAPS, E.; SAUVET, B.; KLAPETEK, V.; VALTR, M.; KORPELAINEN, V.; YACOOT, A. Stitching accuracy in large area scanning probe microscopy. Measurement Science and Technology, 2024, roč. 35, č. 12, s. 125026-125037. ISSN: 1361-6501.
    Detail | WWW

  • 2023

    VALTR, M.; KLAPETEK, P.; MARTINEK, J.; NOVOTNY, O.; JELINEK, Z.; HORTVÍK, V.; NEČAS, D. Scanning Probe Microscopy controller with advanced sampling support. HardwareX, 2023, roč. 15, č. e00451, ISSN: 2468-0672.
    Detail | WWW

    NEČAS, D.; YACOOT, A.; VALTR, M.; KLAPETEK, P. Demystifying data evaluation in the measurement of periodic structures. Measurement Science and Technology, 2023, roč. 34, č. 5, s. 1-21. ISSN: 1361-6501.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    ŠULC, V.; VOHÁNKA, J.; OHLÍDAL, I.; KLAPETEK, P.; OHLÍDAL, M.; KAUR, N.; VIŽĎA, F. Multi-Wavelength Angle-Resolved Scattering of Randomly Rough Surfaces Based on the Scalar Diffraction Theory. Coatings, MDPI, 2023, roč. 13, č. 11, ISSN: 2079-6412.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    VOHÁNKA, J.; ŠULC, V.; OHLÍDAL, I.; OHLÍDAL, M.; KLAPETEK, P. Optical method for determining the power spectral density function of randomly rough surfaces by simultaneous processing of spectroscopic reflectometry, variable-angle spectroscopic ellipsometry and angle-resolved scattering data. Optik, 2023, roč. 280, č. 170775, ISSN: 1618-1336.
    Detail | WWW

  • 2022

    FAHRBACH, M.; JIUSHAI, X.; KLAPETEK, P.; MARTINEK, J.; PEINER, E. Contact Resonance Imaging with Vertical Nanowire Arrays. In Sensoren und Messsysteme - 21. ITG/GMA Fachtagung. 1. Nuremberg: AMA Service GmbH, 2022. s. 245-250. ISBN: 9783800758364.
    Detail

    Puttock, R.; Barton, C.; Saugar, E.; Klapetek, P.; Fernández-Scarioni, A.; Freitas, P.; Schumacher, H.; Ostler, T.; Chubykalo-Fesenko, O.; Kazakova, O. Local thermoelectric response from a single Neél domain wall. Science Advances, 2022, roč. 8, č. 47, s. eadc9798 ( s.)ISSN: 2375-2548.
    Detail | WWW

    BURŠÍK, J.; CHARVÁTOVÁ CAMPBELL, A.; HAVLÍČEK, M.; KLAPETEK, P.; KELAROVÁ, Š.; PŘIBYL, R.; VÁCLAVÍK, R.; STUPAVSKA, M.; BURŠIKOVÁ, V. Surface morphology of nanostructured plasma-polymer thin films deposited under dusty plasma conditions. In Journal of Physics: Conference Series. Journal of Physics: Conference Series. 2022. s. 1-4. ISSN: 1742-6588.
    Detail

    KLENOVSKÝ, P.; VALDHANS, J.; KREJČÍ, L.; VALTR, M.; KLAPETEK, P.; FEDOTOVA, O. Interplay between multipole expansion of exchange interaction and Coulomb correlation of exciton in colloidal II-VI quantum dots. Electronic Structure, 2022, roč. 4, č. 1, ISSN: 2516-1075.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    Kaeseberg, T.; Grundmann, J.; Siefke, T.; Klapetek, P.; Valtr, M.; Kroker, S.; Bodermann, B. Mueller Matrix Ellipsometric Approach on the Imaging of Sub-Wavelength Nanostructures. Frontiers in Physics, 2022, roč. 9, č. 814559, ISSN: 2296-424X.
    Detail | WWW

    OHLÍDAL, I.; VOHANKA, J.; BURŠÍKOVÁ, V.; DVOŘÁK, J.; KLAPETEK, P.; KAUR, N. Optical characterization of inhomogeneous thin films with randomly rough boundaries exhibiting wide intervals of spatial frequencies. OPTICS EXPRESS, 2022, roč. 30, č. 21, s. 39068-39085. ISSN: 1094-4087.
    Detail | WWW

    Marchi, D; Cara, E; Lupi, F. F.; Hoenicke, P.; Kayser, Y; Beckhoff, B; Castellino, M; Klapetek, P.; Zoccante, A; Laus, M; Cossi, M. Structure and stability of 7-mercapto-4-methylcoumarin self-assembled monolayers on gold: an experimental and computational analysis. Physical Chemistry Chemical Physics, 2022, roč. 24, č. 36, s. 22083-22090. ISSN: 1463-9084.
    Detail | WWW

    VOHÁNKA, J.; OHLÍDAL, I.; BURŠÍKOVÁ, V.; KLAPETEK, P.; KAUR, N. Optical characterization of inhomogeneous thin films with randomly rough boundaries. OPTICS EXPRESS, 2022, roč. 30, č. 2, s. 2033-2047. ISSN: 1094-4087.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

  • 2021

    ŠUSTEK, Š.; VOHÁNKA, J.; OHLÍDAL, I.; OHLÍDAL, M.; ŠULC, V.; KLAPETEK, P.; KAUR, N. Characterization of randomly rough surfaces using angle-resolved scattering of light and atomic force microscopy. Journal of Optics, 2021, roč. 23, č. 10, s. 105602-105602. ISSN: 2040-8986.
    Detail | WWW

    KLAPETEK, P.; GROLICH, P.; NEZVAL, D.; VALTR, M.; ŠLESINGER, R.; NEČAS, D. GSvit - An open source FDTD solver for realistic nanoscale optics simulations. COMPUTER PHYSICS COMMUNICATIONS, 2021, roč. 265, č. 1, s. 1-11. ISSN: 1879-2944.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    Guen, E.; Chapuis, PO.; Kaur, NJ.; Klapetek, P.; Gomes, S. Impact of roughness on heat conduction involving nanocontacts. Applied Physics Letters, 2021, roč. 119, č. 16, s. 161602-1 (161602-5 s.)ISSN: 1077-3118.
    Detail | WWW

    NEČAS, D.; KLAPETEK, P. Synthetic Data in Quantitative Scanning Probe Microscopy. Nanomaterials, 2021, roč. 11, č. 7, s. 1-26. ISSN: 2079-4991.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

  • 2020

    HEAPS, E; YACOOT, A.; DONGMO, H.; PICCO, l.; PAYTON, O.D.; RUSSEL-PAVIER, F.; KLAPETEK, P. Bringing real-time traceability to high-speed atomic force microscopy. Measurement Science and Technology, 2020, roč. 31, č. 7, s. 1-11. ISSN: 1361-6501.
    Detail | WWW

    KLAPETEK, P.; YACOOT, A.; HORTVÍK, V.; DUCHOŇ, V.; DONGMO, H.; ŘEŘUCHA, Š.; VALTR, M.; NEČAS, D. Multiple-fibre interferometry setup for probe sample interaction measurements in atomic force microscopy. Measurement Science and Technology, 2020, roč. 31, č. 9, s. 1-11. ISSN: 0957-0233.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    Garnaes, J.; Necas, D.; Nielsen, L.; Madsen, MH.; Torras-Rosell, A.; Zeng, G.; Klapetek, P.; Yacoot, A. Algorithms for using silicon steps for scanning probe microscope evaluation. METROLOGIA, 2020, roč. 57, č. 6, s. 064002-1 (064002-14 s.)ISSN: 0026-1394.
    Detail | WWW

    GUEN, E.; KLAPETEK, P.; PUTTOCK, R.; HAY, B.; ALLARD, A.; MAXWELL, T.; CHAPUIS, P.O.; RENAHY, D.; DAVEE, G.; VALTR, M.; MARTINEK, J.; KAZAKOVA, O.; GOMES, S. SThM-based local thermomechanical analysis: Measurement intercomparison and uncertainty analysis. INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMAL SCIENCES, 2020, roč. 156, č. 106502, s. 1-9. ISSN: 1290-0729.
    Detail | WWW

    ZEMEK, M.; BLAŽEK, P.; ŠRÁMEK, J.; ŠALPLACHTA, J.; ZIKMUND, T.; KLAPETEK, P.; TAKEDA, Y.; OMOTE, K.; KAISER, J. Voxel Size Calibration for High-resolution CT. The e-Journal of Nondestructive Testing. Wels: NDT.net, 2020. s. 1-8. ISBN: 1435-4934.
    Detail | WWW

    NEČAS, D.; VALTR, M.; KLAPETEK, P. How levelling and scan line corrections ruin roughness measurement and how to prevent it. Scientific Reports, 2020, roč. 10, č. 1, s. 1-15. ISSN: 2045-2322.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    HU, X.; PUTTOCK, R.; KAZAKOVA, O.; ULVR, M.; KLAPETEK, P.; NEČAS, D.; NEU, V. Round robin comparison on quantitative nanometer scale magnetic field measurements by magnetic force microscopy. JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC MATERIALS, 2020, roč. 511, č. 1, s. 166947-1 (166947-11 s.)ISSN: 1873-4766.
    Detail | WWW

    NEČAS, D.; KLAPETEK, P.; VALTR, M. Estimation of roughness measurement bias originating from background subtraction. Measurement Science and Technology, 2020, roč. 31, č. 9, s. 094010-1 (094010-15 s.)ISSN: 0957-0233.
    Detail | WWW

    Marek Zemek, Pavel Blažek, Jan Šrámek, Jakub Šalplachta, Tomáš Zikmund, Petr Klapetek, Yoshihiro Takeda, Kazuhiko Omote, Jozef Kaiser. Voxel Size Calibration for High-resolution CT. Wels: 2020.
    Detail

  • 2019

    BLAŽEK, P.; ŠRÁMEK, J.; ZIKMUND, T.; KALASOVÁ, D.; HORTVÍK, V.; KLAPETEK, P.; KAISER, J. Voxel size and calibration for CT measurements with a small field of view. The e-Journal of Nondestructive Testing, 2019, č. 2019, s. 1-7. ISSN: 1435-4934.
    Detail

    ČECHALOVÁ, B.; BRÁNECKÝ, M.; KLAPETEK, P.; ČECH, V. Optical Properties of Oxidized Plasma-Polymerized Organosilicones and Their Correlation with Mechanical and Chemical Parameters. Materials, 2019, roč. 12, č. 3, s. 1-12. ISSN: 1996-1944.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    MARTINEK, J.; VALTR, M.; GROLICH, P.; HORTVÍK, V.; DANICK, B.; SHAKER, M.; KLAPETEK, P. Large area scanning thermal microscopy and infrared imaging system. Measurement Science and Technology, 2019, č. 30, s. 1-12. ISSN: 1361-6501.
    Detail | WWW

    NEČAS, D.; KLAPETEK, P.; NEU, V.; HAVLÍČEK, M.; PUTTOCK, R.; KAZAKOVA, O.; HU, X.; ZAJÍČKOVÁ, L. Determination of tip transfer function for quantitative MFM using frequency domain filtering and least squares method. Scientific Reports, 2019, č. 9, s. 1-15. ISSN: 2045-2322.
    Detail | WWW

    MARTINEK, J.; CHARVÁTOVÁ CAMPBELL, A.; BURŠÍKOVÁ, V.; KLAPETEK, P. Modeling the influence of roughness on nanoindentation data using finite element analysis. INTERNATIONAL JOURNAL OF MECHANICAL SCIENCES, 2019, roč. 161-162, č. 105015, s. 1-17. ISSN: 0020-7403.
    Detail | WWW

    YACOOT, A.; KLAPETEK, P.; VALTR, M.; GROLICH, P.; DONGMO, H.; LAZZERINI, M.; BRIDGES, A. Design and performance of a test rig for evaluation of nanopositioning stages. Measurement Science and Technology, 2019, roč. 30, č. 3, s. 1-10. ISSN: 1361-6501.
    Detail | WWW

    KLAPETEK, P.; CHARVÁTOVÁ CAMPBELL, A.; BURŠÍKOVÁ, V. Fast mechanical model for probe-sample elastic deformation estimation in scanning probe microscopy. Ultramicroscopy, 2019, roč. 201, č. 1, s. 18-18. ISSN: 0304-3991.
    Detail | WWW

  • 2018

    Guen, E.; Chapuis, PO.; Klapetek, P.; Puttock, R.; Hay, B.; Allard, A.; Maxwell, T.; Renahy, D.; Valtr, M.; Martinek, J.; Gomes, S. Local Thermophysical Properties Measurements on Polymers using Doped Silicon SThM Probe: Uncertainty Analysis and Interlaboratory Comparison. In 2018 24TH INTERNATIONAL WORKSHOP ON THERMAL INVESTIGATIONS OF ICS AND SYSTEMS (THERMINIC). 2018. s. 1-6. ISBN: 978-1-5386-6759-0.
    Detail

  • 2017

    KLAPETEK, P.; YACOOT, A.; GROLICH, P.; VALTR, M.; NEČAS, D. Gwyscan: a library to support non-equidistant scanning probe microscope measurements. Measurement Science and Technology, 2017, roč. 28, č. 3, s. 1-11. ISSN: 0957-0233.
    Detail

    KLAPETEK, P.; MARTINEK, J.; GROLICH, P.; VALTR, M.; KAUR, N. Graphics cards based topography artefacts simulations in Scanning Thermal Microscopy. International journal of heat and mass transfer, 2017, roč. 108, č. 1, s. 841-850. ISSN: 0017-9310.
    Detail

    CHARVÁTOVÁ CAMPBELL, A.; JELÍNEK, P.; KLAPETEK, P. Study of uncertainties of height measurements of monoatomic steps on Si 5 x 5 using DFT. Measurement Science and Technology, 2017, roč. 28, č. 3, s. 1-6. ISSN: 1361-6501.
    Detail | WWW

    NEČAS, D.; KLAPETEK, P. Study of user influence in routine SPM data processing. Measurement Science and Technology, 2017, roč. 28, č. 3, s. 1-11. ISSN: 1361-6501.
    Detail | WWW

    FARKA, D.; COSKUN ALJABOUR, H.; BAUER, P.; ROTH, D.; BRUCKNER, B.; KLAPETEK, P.; SARICIFTCI, N.; STADLER, P. Increase in electron scattering length in PEDOT:PSS by a triflic acid post-processing. Monatshefte für Chemie, 2017, roč. 148, č. 5, s. 871-877. ISSN: 1434-4475.
    Detail | WWW

    KLENOVSKÝ, P.; ZŮDA, J.; KLAPETEK, P.; HUMLÍČEK, J. Ellipsometry of surface layers on a 1-kg sphere from natural silicon. Applied Surface Science, 2017, roč. 421, č. 1, s. 542-546. ISSN: 0169-4332.
    Detail

  • 2015

    KLAPETEK, P.; VALTR, M.; MARTINEK, J. Large area high-speed metrology SPM system Large area high-speed metrology SPM system Large area high-speed metrology SPM system. NANOTECHNOLOGY, 2015, roč. 26, č. 6, s. 1-10. ISSN: 0957-4484.
    Detail

    MARTINEK, J.; KLAPETEK, P.; CHARVÁTOVÁ CAMPBELL, A. Methods for topography artifacts compensation in scanning thermal microscopy. Ultramicroscopy, 2015, roč. 155, č. 1, s. 55-61. ISSN: 0304-3991.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    MARTINEK, J.; KLAPETEK, P.; HORÁKOVÁ, M.; MIRANDA, A. Numerical correction of topography artifacts in scanning thermal microscopy. In CONFERENCE PROCEEDINGS NANOCON 2015. 2015. s. 1-6. ISBN: 978-80-87294-63- 5.
    Detail

    MARTINEK, J.; KLAPETEK, P. Modeling C-AFM measurement using FEM. In Nanocon 2015. 2015. s. 1-6. ISBN: 978-80-87294-55-0.
    Detail

  • 2014

    MARTINEK, J.; KLAPETEK, P.; CIMRMAN, R.; VALTR, M. Thermal conductivity analysis of delaminated thin films by scanning thermal microscopy. Measurement Science and Technology, 2014, roč. 25, č. 4, s. 1-12. ISSN: 0957-0233.
    Detail

    NEČAS, D.; ČUDEK, V.; VODÁK, J.; OHLÍDAL, M.; KLAPETEK, P.; ZAJÍČKOVÁ, L. Mapping of properties of thin plasma jet films using imaging spectroscopic reflectometry. Measurement Science and Technology, 2014, roč. 25, č. 11, s. 1-9. ISSN: 0957-0233.
    Detail

    LAZAR, J.; KLAPETEK, P.; VALTR, M.; HRABINA, J.; BUCHTA, Z.; ČÍP, O.; ČÍŽEK, M.; OULEHLA, J.; ŠERÝ, M. Short-Range Six-Axis Interferometer Controlled Positioning for Scanning Probe Microscopy. SENSORS, 2014, roč. 14, č. 1, s. 877-886. ISSN: 1424-8220.
    Detail | WWW

    MARTINEK, J.; ŠLESINGER, R.; KLAPETEK, P. Modeling C- AFM measurement using FEM. In Nanocon 2014. 2014. s. 1-6. ISBN: 978-80-87294-55- 0.
    Detail

    KLAPETEK, P.; NEČAS, D. Independent analysis of mechanical data from atomic force microscopy. Measurement Science and Technology, 2014, roč. 25, č. 4, s. 1-8. ISSN: 0957-0233.
    Detail

  • 2013

    NEČAS, D.; KLAPETEK, P. One-dimensional autocorrelation and power spectrum density functions of irregularregions. Ultramicroscopy, 2013, roč. 124, č. 1, s. 13-19. ISSN: 0304-3991.
    Detail

  • 2012

    NEČAS, D.; KLAPETEK, P. Gwyddion: an open-source software for SPM data analysis. CENTRAL EUROPEAN JOURNAL OF PHYSICS, 2012, roč. 10, č. 1, s. 181-188. ISSN: 1644-3608.
    Detail

  • 2011

    KLAPETEK, P.; VALTR, M.; NEČAS, D.; SALYK, O.; DZIK, P. Atomic force microscopy analysis of nanoparticles in non-ideal conditions. Nanoscale Research Letters, 2011, roč. 6, č. 1, s. 1-9. ISSN: 1931-7573.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

  • 2010

    KLAPETEK, P.; VALTR, M.; PORUBA, A.; NEČAS, D.; OHLÍDAL, M. Rough surface scattering simulations using graphics cards. Applied Surface Science, 2010, roč. 2010, č. 256, s. 5640-5643. ISSN: 0169- 4332.
    Detail

  • 2009

    MAN, J.; KLAPETEK, P.; MAN, O.; WEIDNER, A.; OBRTLÍK, K.; POLÁK, J. Extrusions and intrusions in fatigued metals: Part 2. AFM and EBSD study of the early growth of extrusions and intrusions in 316L steel fatigued at room temperature. PHILOSOPHICAL MAGAZINE, 2009, roč. 89, č. 16, s. 1337-1372. ISSN: 1478- 6435.
    Detail

    OHLÍDAL, M.; OHLÍDAL, I.; KLAPETEK, P.; NEČAS, D. PRECISE MEASUREMENT OF THICKNESS DISTRIBUTION OF NON- UNIFORM THIN FILMS BY IMAGING SPECTROSCOPIC REFLECTOMETRY. In Proceedings of IMEKO 2009. Lisabon: IMEKO, 2009. s. 100-105. ISBN: 978-963-88410-0- 1.
    Detail

  • 2007

    KLAPETEK, P.; BURŠÍK, J.; MARTINEK, J. Near- field scanning optical microscope probe analysis. Ultramicroscopy, 2007, roč. 2007, č. 1, s. 1 (1 s.). ISSN: 0304- 3991.
    Detail

  • 2006

    Richard Ficek, Radimír Vrba, Zuzana Kučerová, Lenka Zajíčková, Marek Eliáš, František Matějka, Jiřina Matějková, Ondřej Jašek, Petr Klapetek. Carbon nanotubes synthesized by plasma enhanced CVD: Preparation for measurements of their electrical properties. Czechoslovak Journal of Physics, 2006, č. 53, s. 1 ( s.)ISSN: 0011- 4626.
    Detail

  • 2005

    OHLÍDAL, I., FRANTA, D., ČUDEK, V., BURŠÍKOVÁ, V., KLAPETEK, P., JÁKL, M. Optical measurement of mechanical stresses in diamond-like carbon films. In PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE). Proceedings of SPIE. Bellingham, Washington: Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE), 2005. s. 717-728. ISBN: 0-8194-5757-4. ISSN: 0277-786X.
    Detail

  • 2004

    FRANTA, D., OHLÍDAL, I., KLAPETEK, P.,OHLÍDAL, M. Characterization of thin oxide films on GaAs substrates by optical methods and atomic force microscopy. Surface and Interface Analysis, 2004, roč. 36, č. 8, s. 1203-1206. ISSN: 0142- 2421.
    Detail

  • 2003

    OHLÍDAL, M., OHLÍDAL, I., KLAPETEK, P., JÁKL, M., ČUDEK, V., ELIÁŠ, M. New Method for the Complete Optical Analysis of Thin Films Nonuniform in Optical Parameters. Japanese Journal of Applied Physics, 2003, roč. 2003, č. 7B, s. 4760 ( s.)ISSN: 0021- 4922.
    Detail

  • 1998

    OHLÍDAL, I., FRANTA, D., OHLÍDAL, M., VIČAR, M., KLAPETEK, P. Comparison of AFM and optical methods at measuring nanometric surface roughness. In PTB - Bericht F- 34. Braunschweig, Germany: Physikalisch- Technische Bunesanstalt Ferrtiungsmestechnik, 1998. s. 123 ( s.)ISBN: 3-89701-280- 4.
    Detail

*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.