Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
doc. Ing.
Ph.D.
FME, IPE DPSN – Associate professor
+420 54114 2783babor@fme.vutbr.cz
Send BUT message
2023
Příprava a charakterizace nanostruktur s potenciálním uplatněním v nanoelektronice, nanofotonice, spintronice a bio-senzorice., zahájení: 01.03.2023, ukončení: 28.02.2026Detail
Specialized technological procedures for optics, zahájení: 01.01.2023, ukončení: 31.12.2028Detail
2020
Příprava nano- a mikrostruktur pro plazmoniku a spintroniku a studium jejich vlastností: etapa II, zahájení: 01.03.2020, ukončení: 28.02.2023Detail
FW01010191, Pokročilé laserově odolné optické elementy pro průmyslové aplikace, zahájení: 01.01.2020, ukončení: 31.12.2023Detail
2019
New single crystals for electron microscopy, zahájení: 01.03.2019, ukončení: 31.12.2022Detail
TH04010525, Procesní monitorování a poruchová analýza pro energeticky účinná zařízení a mikroelektronické výrobky, zahájení: 01.01.2019, ukončení: 31.12.2021Detail
2018
Komparativní analýza vrstevnatých struktur metodou SIMS, zahájení: 24.09.2018, ukončení: 30.12.2018Detail
TH03010006, Výzkum a vývoj vysokonapěťových Si diod pro efektivní konverzi vysokých proudových výkonů, zahájení: 01.01.2018, ukončení: 31.12.2020Detail
2015
TH01010419, Výzkum a vývoj nových technologií výroby bipolárního tranzistoru s izolovaným hradlem (TIGBT), zahájení: 01.01.2015, ukončení: 31.12.2017Detail
2007
GP202/07/P486, Hloubkové profilování 2D nanostruktur metodami SIMS, TOF-LEIS a XPS pomocí nízkoenergiového iontového odprašování, zahájení: 01.01.2007, ukončení: 31.12.2009Detail
2004
Hloubkový profil prvkového složení ultratenkých (nm) vrstev pomocí SIMS s využitím gating techniky, zahájení: 01.04.2004, ukončení: 31.12.2004Detail