Creative activities

• BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T.: Ježek; Ultravakuová aparatura pro přípravu nanostruktur metodou MBE. A2/518. (funkční vzorek)
  Detail

• POLČÁK, J.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.; ČECHAL, J.: Manipulátor XPS; Počítačově řízený UHV manipulátor pro automatické měření spekter XPS. A2/518. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (funkční vzorek)
  http://www.physics.fme.vutbr.cz/, number of downloads: 2
  Detail

• PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; KOLÍBAL, M.; DUDA, R.; ŠIKOLA, T.: Zařízení SIMS TOF-LEIS; SIMS TOF-LEIS hloubkový profilometr s nanometrovým rozlišením. A2/518. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (funkční vzorek)
  http://www.physics.fme.vutbr.cz/, number of downloads: 2
  Detail

• POTOČEK, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.: TDS; Termální desorpční spektroskopie (TDS). A2/518. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (funkční vzorek)
  http://www.physics.fme.vutbr.cz/, number of downloads: 2
  Detail

• BÁBOR, P.; DUDA, R.; ŠIKOLA, T.; PAVERA, M.; POLČÁK, J.: Software pro SIMS, LEIS a XPS; IonProfile. Laboratoř 518. URL: http://physics.fme.vutbr.cz/ufi.php?Action=0&Id=1854. (software)
  http://physics.fme.vutbr.cz/ufi.php?Action=0&Id=1854, number of downloads: 2
  Detail

• BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T.: SARS; Sestava VUT TOF-SARS pro detekci vodíku. Laboratoř povrchů a tenkých vrstev, A2/518, Technická 2, Brno. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2014-10/. (funkční vzorek)
  http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2014-10/, number of downloads: 1
  Detail

• AXMAN, T.; BÁBOR, P.: Sample Holder pro UHV SEM; Držák vzorků pro chlazení (20K) a žíhání vzorků (1000 K) v UHV podmínkách. Vývojové laboratoře Tescan, a.s.. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2017-01/. (funkční vzorek)
  http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2017-01/, number of downloads: 1
  Detail

• KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; LIGMAJER, F.; KOVAŘÍK, M.; POTOČEK, M.: zdroj atomárního vodíku pro SEM; Analýzy povrchů polovodičových materiálů s velkou šířkou zakázaného pásu a kvantitativní analýza dopantů. Purkyňova 123, Brno 61200, budova C, laboratore cistych prostor. URL: http://nano.ceitec.cz/. (ostatní)
  http://nano.ceitec.cz/, number of downloads: 0
  Detail

• BÁBOR, P.: Manipulátor vzorků pro SIMS; Manipulátor vzorků. Purkyňova 123, Brno 61200, budova C, laboratore cistych prostor. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/specimen-manipulator/. (funkční vzorek)
  http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/specimen-manipulator/, number of downloads: 0
  Detail

• BÁBOR, P.; LALINSKÝ, O.; NEJEZCHLEB, K.: Kontrola čistoty povrchů optických krystalů - technická zpráva; Kontrola čistoty povrchů optických krystalů - technická zpráva. Cloud CEITEC. (ostatní)
  Detail

• BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; KOLÍBAL, M.; ŠIK, O.: Metody kvantitativní analýzy dopantů a vysokonapěťová diagnostika čipů; Metody kvantitativní analýzy dopantů a vysokonapěťová diagnostika čipů. Purkyňova 123, Brno 61200, budova C, laboratore cistych prostor. URL: http://nano.ceitec.cz/. (ostatní)
  http://nano.ceitec.cz/, number of downloads: 0
  Detail

• BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; BŘEZINA, J.: MEO_DP0029_2021_GFUNK03; Laserově odolný reflexní optický element pro 266 nm. Meopta Přerov. (funkční vzorek)
  Detail

• BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; BŘEZINA, J.: MEO_DP0029_2021_GFUNK04; Laserově odolný antireflexní optický element pro 2 000 nm. Meopta Přerov. (funkční vzorek)
  Detail

• BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; ZDRÁHAL, J.: MEO_DP0029_2023_GFUNK06; Laserově odolný reflexní optický element pro 2 000 nm. Bude použito ve výrobě firmy Meopta.. (funkční vzorek)
  Detail

• BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; ZDRÁHAL, J.; PEKAŘ, V.: MEO_DP0029_2023_GFUNK05; Laserově odolný reflexní optický element pro 1 030 nm. Bude použito ve výrobě ve fimě Meopta. (funkční vzorek)
  Detail

In the event of a discrepancy in the data, inspect the FAQs for visiting cards.