Cílem projektu je prezentace výsledků týmu vedeného dr. Tomášem Šikolou (FS VUT) a skupiny prof. Josefa Humlíčka (PřF MU) ve společně rozvíjené oblasti iontově svazkových technologií a analýzy povrchů a tenkých vrstev na mezinárodní konferen (USA). Prezentace proběhne formou dvou ústních příspěvků, jednoho posteru a předáním rukopisů tří článků. Prezentované výsledky jsou vyústěním výzkumných aktivit obou skupin v rámci mezinárodního projektu COPERNICUS No. CIPA MŠMT na částečné hrazení výdajů spjatých s prezentací tvoří předpokládaný finanční příspěvek české strany k tomuto projektu financovanému EÚ.

Description in English
údaj již není dostupný

PG98377

Czech

Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc. - principal person responsible

Faculty of Mechanical Engineering
- responsible department (1.1.1989 - not assigned)
Faculty of Mechanical Engineering
- beneficiary (1.1.1998 - 31.12.1998)

VOBORNÝ, S.; MACH, J.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; TOMANEC, O.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Application of Complex UHV Apparaturus in a Study of Low-tepmerature Gallium-nitride Ultrathin Film Growth. Jemná mechanika a optika, 2004, vol. 9, no. 9, p. 265 ( p.)ISSN: 0447-6441.
Detail

KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. Jemná mechanika a optika, 2004, vol. 9, no. 9, p. 262 ( p.)ISSN: 0447-6441.
Detail

BRANDEJSOVÁ, E.; ČECHAL, J.; BONAVENTUROVÁ, O.; NEBOJSA, A.; TICHOPÁDEK, P.; URBÁNEK, M.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T.; HUMLÍČEK, J. In situ analysis of PMPSi thin films by spectroscopic ellipsometry. Jemná mechanika a optika, 2004, vol. 9, no. 9, p. 260 ( p.)ISSN: 0447-6441.
Detail

ČECHAL, J.; TICHOPÁDEK, P.; NEBOJSA, A.; BONAVENTUROVÁ, O.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T. In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS. Surface and Interface Analysis, 2004, vol. 38, no. 8, p. 1218 ( p.)ISSN: 0142-2421.
Detail

VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; MACH, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; PRŮŠA, S.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Deposition and in-situ charakterization of ultra-thin films. Thin Solid Films, 2004, vol. 459, no. 1-2, p. 17 ( p.)ISSN: 0040-6090.
Detail

KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. ToF-LEIS Analysis of ultra thin films: Ga and Ga-N layer growth on Si(111). Surface Science, 2004, vol. 566-568, no. 9, p. 885 ( p.)ISSN: 0039-6028.
Detail

ROUČKA, R., JIRUŠE, J., ŠIKOLA, T. Spot intensity processing in LEED images. Vacuum, 2002, vol. 65, no. 2, p. 121 ( p.)ISSN: 0042-207X.
Detail

KALOUSEK, R., DUB, P., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F. Vibrational Analysis of the Cantilever in noncontact Scanning Force Microscopy. Surface and Interface Analysis, 2000, vol. 30, no. 1, p. 292 ( p.)ISSN: 0142-2421.
Detail

MATĚJKA, F., LOPOUR, F., MATĚJKOVÁ, J. Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 38 ( s.)ISSN: 0009-0700.
Detail

URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T., ZLÁMAL, J., CHMELÍK, R., HARNA, Z., JIRUŠE, J., JÁKL, M. In situ plošné monitorování optických parametrů tenkých vrstev. Jemná mechanika a optika, 2001, roč. 46, č. 4, s. 143 ( s.)ISSN: 0447-6441.
Detail

TICHOPÁDEK, P., NEBOJSA, A., ČECHAL, J. Konstrukce elipsometru pro měření tenkých vrstev a povrchů. Jemná mechanika a optika, 2001, roč. 46, č. 4, s. 136 ( s.)ISSN: 0447-6441.
Detail

VOBORNÝ, S., MACH, J., KOLÍBAL, M., ČECHAL, J., BÁBOR, P., POTOČEK, M., ŠIKOLA, T. A study of Early Periods of GaN Ultrathin Film Growth. In New Trends in Pysics. Brno: VUT v Brně, 2004. p. 270 ( p.)ISBN: 80-7355-024-5.
Detail

KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BARTOŠÍK, M., TOMANEC, O., ŠIKOLA, T. Growth of gallium on sillicon: A TOF-LEIS and AFM study. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. p. 230 ( p.)ISBN: 80-7355-024-5.
Detail

LENCOVÁ, B. Recent development in methods for electron optical computations. In Microscopy 2001. Barcelona: University of Barcelona, 2001. p. 29 ( p.)
Detail

LENCOVÁ, B., ZLÁMAL, J., URBAN, P. Graphical inputs and outputs for electron optical computations. In Dreiländertagung für elektronenmikroskopie. A conference on Modern Microscopical methods. Innsbruck: Universität Innsbruck, 2001. p. 12 ( p.)
Detail

LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., KALOUSEK, R., MATĚJKA, F., ŠKODA, D. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/Nanostructures. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. p. 320 ( p.)
Detail

LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D. Fabrication of nanostructures by AFM local Oxidation. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 394 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

TICHOPÁDEK, P.; ŠIKOLA, T.; NEBOJSA, A.; ČECHAL, J. Application of Spectroscopic Ellipsometry in Ultrathin Film Analysis. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 415 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

VOBORNÝ, S., ŠIKOLA, T., PRŮŠA, S., ZLÁMAL, J., BÁBOR, P. Diagnostics and optimization of ion source parameters. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 304 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P. Application of ToF - LEIS for Analysis of Surfaces and Ultra Thin Films. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 404 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

Responsibility: Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc.