Project detail

Analysis of the optical properties of solar cells

Duration: 01.01.2006 — 31.12.2009

Funding resources

Ministerstvo průmyslu a obchodu ČR - TANDEM

- whole funder (2006-01-01 - 2009-12-31)

On the project

Vývoj a využití nových analytických metod umožňujících provést charakterizaci optických vlastností solárních článků vyrobených na bázi krystalického křemíku. Cílem je dosažení účinnosti solárních panelů v hodnotách vyšších než 16% (účinnost v současné době je asi 13,5%).Cílem projektu je tedy vytvořit prototyp solárního modulu s uvedenou zvýšenou účinností, který bude využit pro zavedení průmyslové výroby solárních článků a panelů s touto účinností.

Description in English
Within the project new analytical methods enabling us to perform the characterization of the optical properties of the solar cells fabricated on the basis of crystalline silicon will be developed and utilized. To achieve the efficiency in values greater than 16% (at present the efficiency of these solar modules is about 13,5%) is our main target. Thus, the aim of the project is to create a prototype of the solar modules exhibiting this enhanced efficiency that will be used to start the production of the improved solar cells and solar panels in industry.

Keywords
krystalický křemík, solární buňky a panely, optické vlastnosti, elektrické vlastnosti, analytické metody, optické ztráty, zvýšení účinnosti

Key words in English
crystaline silicon solar cells and modules; optical properties; electrical properties; analytical metods; optical losses; enhancement of the efficiency

Mark

FT-TA3/142

Default language

Czech

People responsible

Ohlídal Miloslav, prof. RNDr., CSc. - fellow researcher
Poruba Aleš, Ing. - principal person responsible

Units

Dept. of Optics and Precise Mechanics
- (2006-01-01 - 2009-12-31)

Results

GRÜNDLING, V.; OHLÍDAL, M.; ANTOŠ, M.; MALINA, R.; PETRÁČEK, J.; PETRILAK, M. Měření rozptylu světla na povrchu solárních článků. In Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference. Rožnov pod Radhoštěm: Czech RE Agency, 2008. s. 168-171. ISBN: 978-80-254-3528-1.
Detail

OHLÍDAL, M.; OHLÍDAL, I.; KLAPETEK, P.; NEČAS, D. PRECISE MEASUREMENT OF THICKNESS DISTRIBUTION OF NON-UNIFORM THIN FILMS BY IMAGING SPECTROSCOPIC REFLECTOMETRY. In Proceedings of IMEKO 2009. Lisabon: IMEKO, 2009. p. 100-105. ISBN: 978-963-88410-0-1.
Detail

KLAPETEK, P.; BURŠÍK, J.; MARTINEK, J. Near-field scanning optical microscope probe analysis. Ultramicroscopy, 2007, vol. 2007, no. 1, p. 1 (1 s.). ISSN: 0304-3991.
Detail

OHLÍDAL, M.; OHLÍDAL, I.; NEČAS, D.; KLAPETEK, P. Complete Optical Characterization of Non-Uniform SiOx Thin Films Using Imaging Spectroscopic Reflectometry. e-Journal of Surface Science and Nanotechnology, 2009, vol. 7, no. 4, p. 409-412. ISSN: 1348-0391.
Detail

OHLÍDAL, M.; OHLÍDAL, I.; KLAPETEK, P.; NEČAS, D.; BURŠÍKOVÁ, V. Application of spectroscopic imaging reflectometry to analysis of area non-uniformity in diamond-like carbon films. Diamond and Related Materials, 2009, vol. 2009 (18), no. 1, p. 384-387. ISSN: 0925-9635.
Detail

KLAPETEK, P.; VALTR, M.; PORUBA, A.; NEČAS, D.; OHLÍDAL, M. Rough surface scattering simulations using graphics cards. Applied Surface Science, 2010, vol. 2010, no. 256, p. 5640-5643. ISSN: 0169-4332.
Detail

OHLÍDAL, M.; OHLÍDAL, I.; KLAPETEK, P.; FRANTA, D. Application of imaging spectroscopic reflectometry to analysis of area non-uniformity of diamond-like carbon films. Taipei: Academia Sinica, Taiwan, 2008. p. 422-422.
Detail

FRANTA, D.; NEČAS, D.; OHLÍDAL, I.; HRDLIČKA, M.; PAVLIŠTA, M.; FRUMAR, M.; OHLÍDAL, M. Combined method of spectroscopic ellipsometry and photometry as an efficient tool for the optical characterisation of chalcogenide thin films. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, 2009, vol. 11, no. 12, p. 1891-1898. ISSN: 1454-4164.
Detail

OHLÍDAL, M.; OHLÍDAL, I.; KLAPETEK, P.; NEČAS, D. Complete optical characterization of non-uniform SiOx thin films using imaging spectroscopic reflectometry. Dublin: Trinity College Dublin, 2008. p. M-P43 (M-P43 p.)
Detail

OHLÍDAL, M.; GRÜNDLING, V.; ANTOŠ, M.; MALINA, R.; PETRÁČEK, J.; PETRILAK, M.: Scattermeter; Přístroj k měření rozptylu laserového světla z povrchu pevných těles. ÚFI FSI VUT v Brně, Technická 2896/2 616 69 Brno Laboratoř koherenční optiky, A2/218. URL: http://physics.fme.vutbr.cz/ufi.php?Action=&Id=1852. (funkční vzorek)
Detail

MALINA, R.; PETRÁČEK, J.: SM; Software pro ovládání Scattermetru. Fakulta strojního inženýrství, Ústav fyzikálního inženýrství, Laboratoř kohorenční optiky, A2/218, Technická 2, 616 69 Brno. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/ufi.php?Action=&Id=1854. (software)
Detail

Responsibility: Poruba Aleš, Ing.